Microanalisi


Element

Il sistema Element EDS è in grado di fornire grandi capacità analitiche in un hardware molto compatto, massimizzando le performance e la flessibilità garantisce la produzione molto rapida di risultati e una reale facilità d’uso. E’ indicato per i settori in cui è necessario ottenere analisi accurate in breve tempo. La combinazione dell’Element Silicon Drift Detector (SDD) con la semplice interfaccia software APEX™ produce la soluzione di microanalisi per tutti i livelli di analisi e qualunque applicazione.

Vi ricordiamo che il design della solida e affidabile finestra Si3N4 del detector è un brevetto EDAX depositato ed è resistente agli urti e alla corrosione e adatto anche al Plasma cleaner.

  • Element SDD – 30 mm2
  • Si3N4 finestra
  • 129 eV risoluzione at Mn K
  • Modulo incapsulato a vuoto ed ermeticamente sigillato
  • X-ray Input > 1M cps
  • Rapidità di processo > 300 kcps
  • Picco/Background > 10,000/1
  • Risoluzione stabile
  • Campo d’azione: Be to Am
  • Raffreddamento termoelettrico Peltier (fan and LN free)
  • Possibilità di avere una slitta per estrarre il detector dalla camera

Octane Elect

La microanalisi Octane Elect  esalta l’EDS con le ultime innovazioni della tecnologia SDD ed elettronica ad alta velocità, progettata per chi richiede alte performance e funzionalità. L’Elect produce una eccellente risoluzione con una notevole sensibilità per gli elementi leggeri. Incorpora la finestra Si3N4 (Nitruro di Silicio) elettronica ad alta velocità ed una slitta manuale. E’ possibile combinarla con un EBSD EDAX come parte del sistema analitico Pegasus EDS-EBSD ottenendo così una integrazione senza pari sia per composizione elementale sia per analisi strutturale del cristallo in un unico pacchetto. L’Octane Elect offre un grande valore al suo costo e performance ai più alti livelli grazie al design brevettato della finestra.

L’Octane Elect SDDs è disponibile in due modelli: Octane Elect Plus – 30 mm2 chip Octane Elect Super – 70 mm2 chip

  • Octane Elect SDD opzioni

– Plus (30 mm2) – Super (70 mm2)

  • Risoluzione: 127 eV a Mn K
  • Carbonio: >500 k cps for mapping ultra rapido and particle acquisition
  • Campo d’azione: AL L (73 eV) – Am
  • Rapidità di processo: 850 k ocps at 1.6 M icps
  • Raffreddamento: Peltier
  • Al L to Al K peak height ratio of 1:1 at 2.5 kV
  • Standard con EDS Software analisi

– Fast Phase Mapping routine (patent pending) and materials libraries – Smart Diagnostics – Smart Acquisition – EXpert ID – Smart Mapping – Smart Data Management


Octane Elite

La tecnologia dell’Octane Elite cambia le regole del gioco tra le microanalisi, portando lo sviluppo delle analisi EDS con SDD al prossimo livello. Nel sistema è inclusa la finestra in Nitruro di Silicio con design brevettato da EDAX che offre rimarcabili miglioramenti nella sensibilità dell’analisi degli elementi leggeri e micoanalisi a bassi kV e la slitta motorizzata.

L’Elite utilizza una tecnologia avanzata che permette di processare ad alta velocità i dati X-ray. E’ possibile abbinarlo con EBSD e/o WDS  come parte di un sistema Pegasus o ancora meglio come parte del Trident (EDS+EBSD+WDS) per una completa caratterizzazione dei materiali. Il livello tecnologico dell’Octane Elite lo pongono al top della lista dei desideri di chi deve affrontare le più complicate sfide di caratterizzazione dei materiali.

L’Octane Elite SDDs è disponibile in 2 models: Octane Elite Plus – 30 mm2 chip Octane Elite Super – 70 mm2 chip

  • Octane Elite SDD opzioni:

– Plus (30 mm2) – Super (70 mm2)

  • Risoluzione 125 eV a Mn K

– 123 eV premium:

  • Carbon detection above 750 K input cps for ultra fast mapping and particle acquisition
  • Detection range Al L (73 eV) to Am
  • Throughput – 850 k ocps at 2.0 M icps
  • Al L to Al K peak height ratio of 1:1 at 2.5 kV
  • Cooling: Peltier
  • Standard with EDS Analysis Software

– Fast Phase Mapping routine (patent pending) and materials libraries – Smart Diagnostics – Smart Acquisition – EXpert ID – Smart Mapping – Smart Data Management