L’eccellenza della tecnica Broad Ion Beam (BIB) nella Failure Analysis dei Solder Bump Joints
L’efficienza operativa dei sistemi microelettronici d’avanguardia dipende strettamente dalla qualità dei solder bump joints. Tali giunti non solo assicurano la continuità elettrica e meccanica tra chip e substrato, ma ne preservano l’integrità strutturale nel tempo.
Microscopi elettronici innovativi e compatti
I microscopi elettronici a trasmissione più innovativi sono Delong Instruments:
sono plug-and-play, sono compatti (uno è addirittura tabletop), lavorano in modalità diverse, oltre la TEM: STEM, SEM, EDS, Diffrazione, grazie all’ottimo contrasto i campioni possono essere visti senza staining, venite a scoprire il resto…