Il microscopio a doppio fascio (Dual Beam) combina un fascio elettronico a scansione (SEM) e un fascio ionico focalizzato (FIB). Grazie alla sua particolare configurazione e flessibilità, è uno strumento all’avanguardia che può essere impiegato per la diagnosi dei difetti o la modifica dei circuiti integrati, per l’impiantazione ionica nei semiconduttori, per microlavorazioni e incisioni in situ, per la fabbricazione di nanostrutture e di chip elettro-quantistici, oltre che per imaging e analisi tridimensionale dei materiali, analisi superficiale ad elevata risoluzione, caratterizzazione delle proprietà meccaniche dei materiali e preparazione di campioni per la microscopia elettronica a trasmissione. Le applicazioni sono molteplici, e indispensabili nella ricerca e sviluppo delle nanotecnologie, che hanno permesso una nuova comprensione e una più approfondita conoscenza delle proprietà della materia, spostando l’attenzione sulla scala nanometrica.
Il Microscopio Dual Beam DB500 lanciato da CIQTEK è equipaggiato con una colonna elettronica con sorgente a emissione di campo (FEG) e una colonna ionica con controllo autonomo, ed è uno strumento potente e versatile per l’analisi e la preparazione di campioni su scala nanometrica. La tecnologia “SuperTunnel”, il design della lente obiettivo a bassa aberrazione e l’alta risoluzione ottenuta anche a bassa tensione garantiscono elevate capacità di analisi su scala nanometrica. La colonna ionica utilizza una sorgente ionica di gallio liquido, che garantisce un fascio ionico altamente stabile e capacità di lavorazione nanometrica. Infine, il nano-manipolatore integrato, il sistema di iniezione del gas, e le 24 porte di espansione, offrono una configurazione completa e al contempo una forte espandibilità, rendendo questo strumento la piattaforma ideale per l’analisi e la lavorazione nanometriche.
Per mostrare agli utenti le prestazioni eccezionali del DB500, il team di microscopia elettronica di CIQTEK ha organizzato delle sessioni dimostrative con video sulle varie applicazioni di questo strumento all’avanguardia nei campi della scienza dei materiali, dell’industria dei semiconduttori, della biomedicina e altro ancora. Nei video saranno illustrati i principi di funzionamento del DB500, le sorprendenti immagini acquisite e i fondamenti di questa tecnologia.
In particolare, nella sessione “Preparazione del campione per microscopia elettronica a trasmissione” viene illustrato come il DB500 permetta di preparare in modo efficiente e preciso i campioni per microscopia elettronica a trasmissione (TEM).
Dal video si può vedere che il DB500 ha un funzionamento semplice e prevede pochi passaggi di pre-trattamento; può realizzare un taglio preciso su scala micro e nanometrica in punti specifici, con dimensioni controllabili e spessore uniforme e adatto per l’analisi con varie tecnologie microscopiche; inoltre può allo stesso tempo integrare le fasi di taglio, imaging e analisi, per un controllo completo sul campione.
Guarda qui il video “Preparazione del campione per microscopia elettronica a trasmissione”: https://www.youtube.com/watch?v=1Cq27WdfZlI
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