Con il SEM si può fare! …Oppure no?
Avvicinarsi al Microscopio Elettronico a Scansione (SEM) può generare grandi aspettative nei nuovi utenti. Tuttavia, un approccio professionale e costruttivo inizia chiarendo subito cosa lo strumento non può fare, per poi esplorare le soluzioni tecniche che permettono di superare le barriere .
Posso vedere immagini a colori dei miei campioni?
Posso vedere gli atomi?
Posso guardare attraverso i diversi strati che compongono il mio campione?
Posso misurare le altezze delle rugosità sulle superfici?
Posso analizzare un campione immerso in un liquido?
E le microplastiche?
Leggi la nostra ultima application note per sapere cosa si può e cosa non si può fare con il SEM, e i nostri suggerimenti per andare oltre le limitazioni della microscopia elettronica.
Microscopio elettronico a scansione: Caratterizzazione meccanica dei materiali all’interno del SEM
L’evoluzione della microscopia elettronica SEM punta all’analisi correlativa in-situ. Grazie all’ampia camera e alla flessibilità dei sistemi Ciqtek, è ora possibile combinare imaging ad alta risoluzione con test meccanici, elettrici e termici (da -170 a 1200 °C). Scopri come questa tecnologia ha permesso di identificare la fatica meccanica del litio nelle batterie a stato solido in una recente pubblicazione su Science.