Microscopio elettronico a scansione: Caratterizzazione meccanica dei materiali all’interno del SEM
L’evoluzione della microscopia elettronica SEM punta all’analisi correlativa in-situ. Grazie all’ampia camera e alla flessibilità dei sistemi Ciqtek, è ora possibile combinare imaging ad alta risoluzione con test meccanici, elettrici e termici (da -170 a 1200 °C). Scopri come questa tecnologia ha permesso di identificare la fatica meccanica del litio nelle batterie a stato solido in una recente pubblicazione su Science.