Con il SEM si può fare! …Oppure no?
Avvicinarsi al Microscopio Elettronico a Scansione (SEM) può generare grandi aspettative nei nuovi utenti. Tuttavia, un approccio professionale e costruttivo inizia chiarendo subito cosa lo strumento non può fare, per poi esplorare le soluzioni tecniche che permettono di superare le barriere .
Posso vedere immagini a colori dei miei campioni?
Posso vedere gli atomi?
Posso guardare attraverso i diversi strati che compongono il mio campione?
Posso misurare le altezze delle rugosità sulle superfici?
Posso analizzare un campione immerso in un liquido?
E le microplastiche?
Leggi la nostra ultima application note per sapere cosa si può e cosa non si può fare con il SEM, e i nostri suggerimenti per andare oltre le limitazioni della microscopia elettronica.
Cryo-SEM e celle di Peltier
Microscopi Elettronici “Cryo”, sia a scansione (SEM) che a trasmissione (TEM), sono ampiamente utilizzati per la caratterizzazione di campioni biologici o di altri materiali con un elevato contenuto di acqua.
Con questo termine in realtà si possono intendere due diverse tipologie di analisi a bassa temperatura, una è la tecnica Cryo-EM vera e propria, mentre l’altra si avvale di un particolare stage portacampioni da utilizzare per le analisi con un SEM tradizionale.
Leggi il nostro ultimo articolo per approfondire l’argomento delle analisi a bassa temperatura al Microscopio elettronico.
Microscopio elettronico a scansione: Caratterizzazione meccanica dei materiali all’interno del SEM
L’evoluzione della microscopia elettronica SEM punta all’analisi correlativa in-situ. Grazie all’ampia camera e alla flessibilità dei sistemi Ciqtek, è ora possibile combinare imaging ad alta risoluzione con test meccanici, elettrici e termici (da -170 a 1200 °C). Scopri come questa tecnologia ha permesso di identificare la fatica meccanica del litio nelle batterie a stato solido in una recente pubblicazione su Science.
SEM con In-Lens o senza In-Lens?
Il futuro della microscopia elettronica a scansione si basa sull’integrazione di tecnologie avanzate, ma come possiamo bilanciare risoluzione e accessibilità?
Il nostro ultimo articolo confronta i microscopi elettronici a scansione (SEM) con e senza rivelatore In-Lens, evidenziando le peculiarità tecniche e le differenze prestazionali.
Il rivelatore In-Lens, posizionato all’interno della lente obiettivo, cattura in modo selettivo ed efficiente gli elettroni secondari SE1, responsabili dei dettagli superficiali ad alta risoluzione.
Questo si traduce in una risoluzione spaziale superiore, una maggiore sensibilità superficiale e la possibilità di filtrare le energie per distinguere tra contrasto topografico e composizionale. I SEM con tecnologia In-Lens sono spesso accoppiati a sorgenti a emissione di campo (FEG), offrendo eccellenti prestazioni anche a basse tensioni, ma a costi e complessità operativi maggiori, richiedendo un vuoto ultra-spinto.
Ball Grid Array e analisi al SEM
I componenti BGA, fondamentali in elettronica avanzata, richiedono tecniche precise per l’analisi delle saldature. In questo articolo scopriamo come la lucidatura a ioni (con strumenti come il Coxem CP-8000+) permette di ottenere superfici prive di stress meccanici, ideali per immagini ad alto contrasto al microscopio elettronico a scansione (SEM). Confrontiamo metodi tradizionali e innovativi per una failure analysis affidabile.
NanoInnovation 2024
Il Congresso di microscopia elettronica italiano NanoInnovation 2024 si svolgerà a Roma dal 9 al 13 Settembre e Media System Lab ci sarà. Saremo presenti anche con uno dei nuovi SEM Ciqtek che sarà a disposizione di chiunque vorrà testarlo durante gli orari di apertura del Congresso ed è già possibile prenotare live demo chiamando […]