CNR ITAE di Messina

La Dott.ssa Cannilla del CNR ITAE di Messina durante una sessione di microscopia elettronica per l'analisi di catalizzatori.

Scopri come la Dott.ssa Cannilla del CNR ITAE è stata supportata da Media System Lab, per la ricerca su catalizzatori per processi energetici sostenibili. Un’esperienza che ha favorito l’eccellenza nelle sue ricerche.

Analisi elementare del vetro al SEM

Analisi elementare EDS condotta su frammenti di vetro per il controllo qualità, mostrando i risultati per due flaconcini in vetro farmaceutico.

L’analisi elementare al SEM con EDS è un potente strumento per la caratterizzazione chimica e morfologica del vetro, utile per determinare la composizione e la qualità dei campioni. Queste tecniche permettono di esaminare in dettaglio i materiali e di controllare la loro idoneità per applicazioni specifiche, come quelle farmaceutiche.

Il SEM FEG 5000X nello studio dei setacci molecolari: bassa tensione, alta risoluzione

Immagine al SEM ad alta risoluzione del setaccio molecolare SBA-15, con pori esagonali e struttura a cordoncino.

I setacci molecolari sono materiali essenziali in molti settori industriali grazie alla loro capacità di selezionare molecole in base a forma e dimensione. La microscopia elettronica SEM permette di analizzarne con precisione struttura, morfologia e distribuzione dei pori. Attraverso esempi come ZSM-5 e SBA-15, osservati con il SEM5000X CIQTEK, è possibile correlare la morfologia alla reattività, alla selettività e alla stabilità dei materiali, migliorando l’efficienza dei processi di sintesi e applicazione.

Come si preparano i funghi… per il SEM?

preparato con essicazione chimica sem

La microscopia elettronica SEM permette di ottenere immagini ad alta risoluzione di organismi e strutture biologiche. Con il SEM3200 di CIQTEK, combinato a un protocollo semplice e veloce basato su essicazione chimica con HMDS o TBA, è possibile osservare dettagli morfologici senza artefatti. Questo approccio rappresenta una valida alternativa ai metodi tradizionali, offrendo risultati affidabili e accessibili anche a livello economico.

Le cause del danneggiamento per fatica su scala sub-millimetrica

fatica

La fatica è un processo di degrado progressivo che interessa i materiali sottoposti a sollecitazioni cicliche, portando spesso a rotture anche al di sotto del limite elastico. Questo articolo approfondisce il fenomeno nei materiali metallici, analizzando l’effetto dei difetti interni, delle disomogeneità microstrutturali e delle dislocazioni cristalline. Grazie all’impiego di tecniche avanzate come SEM, EBSD e FIB-SEM, è possibile visualizzare la struttura interna del materiale e identificare le cause dell’innesco e della propagazione delle cricche. L’obiettivo è comprendere meglio il comportamento a fatica per migliorare l’affidabilità dei componenti meccanici.

Nano-lavorazione con FIB-SEM per la preparazione dei campioni per le analisi al TEM

Microscopio Dual Beam DB500 di CIQTEK, utilizzato per analisi e preparazione di campioni a scala nanometrica con alta risoluzione.

Il microscopio Dual Beam DB500 di CIQTEK unisce fascio elettronico e ionico per analisi e preparazione di campioni a livello nanometrico. Ideale per la ricerca avanzata in nanotecnologie, scienza dei materiali e semiconduttori, offre prestazioni eccezionali, risoluzione elevata e versatilità nelle applicazioni. Dispone di un nano-manipolatore integrato e un sistema di espansione che lo rende uno strumento potente per la ricerca e l’industria.

Immagini SEM a bassa tensione

analisi SEM a bassa tensione con dati relativi alla carica e alla risoluzione dei campioni.

L’uso di SEM a bassa tensione offre vantaggi nella morfologia dei campioni, riducendo il rischio di carica elettrica e migliorando la risoluzione. A basse tensioni, è possibile evitare la preparazione complessa dei campioni e osservare materiali non conduttivi in vuoto. Il bilanciamento della carica e la gestione della tensione di accelerazione sono cruciali per ottenere immagini chiare e dettagliate. L’articolo esplora anche l’uso delle tecniche ESEM e Low Vacuum per analisi ottimali.

Come utilizzare l’EDS per ottimizzare la preparazione dei campioni biologici

analisi eds campioni biologici

La preparazione dei campioni biologici per la microscopia elettronica richiede protocolli specifici per garantire stabilità, conduttività e buon contrasto. L’uso di marcatori con elementi pesanti e la spettroscopia EDS permettono di valutare la distribuzione chimica nei campioni, migliorando la comprensione del protocollo e aumentando la riproducibilità degli esperimenti, soprattutto in studi multitecnica.

SEM ed EBSD per migliorare le batterie al litio

Superficie lucida della foglia di rame osservata al SEM CIQTEK SEM5000 a 2kV

Lo studio della foglia di rame elettrolitico tramite il microscopio elettronico a emissione di campo CIQTEK SEM5000 e le tecniche SEM-EBSD permette di analizzare la microstruttura e l’orientamento cristallino dei grani, aspetti fondamentali per migliorare le prestazioni delle batterie agli ioni di litio. L’uso combinato di imaging ECCI e mappatura EBSD consente una caratterizzazione dettagliata e su larga scala, utile per ottimizzare i materiali e la durata delle batterie.

Microscopia elettronica nella produzione di batterie

Microstruttura del rame per elettrodi analizzata al SEM, utile per ottimizzare la qualità delle batterie al litio.

Il controllo della microstruttura del rame è fondamentale per migliorare le prestazioni degli elettrodi nelle batterie al litio. Grazie al SEM (microscopia elettronica a scansione) e all’analisi EDS, è possibile valutare purezza e morfologia del rame durante le fasi di raffinazione ed elettrodeposizione. Trattamenti specifici come il roughening migliorano l’adesione dei materiali, ottimizzando l’efficienza della batteria e riducendo i rischi strutturali.

NanoInnovation 2024

NanoInnovation la microscopia elettronica a Roma

Il Congresso di microscopia elettronica italiano NanoInnovation 2024 si svolgerà a Roma dal 9 al 13 Settembre e Media System Lab ci sarà. Saremo presenti anche con uno dei nuovi SEM Ciqtek che sarà a disposizione di chiunque vorrà testarlo durante gli orari di apertura del Congresso ed è già possibile prenotare live demo chiamando […]

Electron Microscopy Congress 2024

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Il Congresso di microscopia elettronica più importante d’Europa apre le porte e Media System Lab ci sarà. Nel Gennaio 2020 abbiamo partecipato a Copenhagen alla riunione per la presentazione agli espositori dell’EMC20 che si sarebbe dovuto tenere nell’Agosto dello stesso anno al centro congressi Bella Center ma la pandemia da SARS-COV-2 ha cambiato i piani […]

Media System Lab e Flim Labs a Palermo

Workshop sulle Metodologie Avanzate di Investigazione: Unitevi a Noi all’Università di Palermo!
Fluorescence Lifetime Analysis, FLIM e Live-Cell Label-Free imaging con il microscopio olotomografico Nanolive.

La semplicità non è più un optional

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Lo sviluppo tecnologico, informatico e molecolare ha portato alla creazione di microscopi con prestazioni sempre migliori arrivando addirittura a superare il limite ottico di risoluzione (200nm). Tuttavia, la crescente performance corrisponde ad un’inevitabilmente crescita della complessità degli strumenti e quindi del loro utilizzo. Di conseguenza, la vera sfida odierna non è più produrre microscopi dalle performance eccezionali, ma di combinare qualità d’immagine e facilità d’utilizzo. Per quanto la necessità di immagini ad altissime risoluzioni sia essenziale, la rapidità nelle analisi e nella produzione di risultati, la semplicità della gestione dei dati e della loro quantificazione iniziano ad avere un peso sempre più importante, se non addirittura maggiore, sulla complessa bilancia del microscopio perfetto.

Il posto dei microscopisti

Siamo così come ci vedi: trasparenti e pieni di passione per il nostro lavoro. Essere affidabili è un obiettivo che ogni membro del nostro team sente suo e ci impegniamo per poter garantire sempre il meglio ai nostri clienti: la nostra professionalità è il nostro biglietto da visita!
contattaci +39347942823 info@m-s.it

Corso di Microscopia elettronica a scansione

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La nostra attività di formazione ad alto valore tecnico continua, abbiamo già fissato le date per il prossimo corso SEM. Nella nostra sede di Rovereto ospiteremo le attività del corso di microscopia elettronica a scansione, sarà tenuto dai nostri esperti che saranno a disposizione dei corsisti durante i due giorni di discussione su temi quali: profondità di campo, risoluzione, aberrazioni, sistemi di vuoto, astigmatismo e molti altri.

I posti sono limitati per poter garantire una esperienza stimolante a tutti i partecipanti.

Durante il corso sarà possibile vedere in azione alcuni dei microscopi elettronici a scansione installati nel Demo space di Media System Lab nella Be Factory di Rovereto, saranno utilizzati SEM di modelli diversi per offrire una opportunità esperienziale più ampia.

Se sei interessato ad avere informazioni sul corso sem contattaci +39347942823 info@m-s.it

La nuova era della Microscopia elettronica

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Vieni a conoscere la tecnologia Flim labs e a discutere con noi di Fluorescence Lifetime Analysis e Fuorescence Lifetime Imaging Microscopy, ad Aprile saremo a Bologna, a Maggio a Palermo, a Giugno a Milano e poi a Roma.

Se sei interessato ad ospitare questo evento nel tuo Istituto contattaci +39347942823 info@m-s.it

Le Ciglia

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La storia delle ciglia è legata all’evoluzione della microscopia, fondamentale per la loro scoperta e comprensione. In questa analisi, esploreremo le tecniche microscopiche per lo studio delle ciglia. Verso il 1800, strutture come il nucleo, i mitocondri e le ciglia sono state identificate. Nonostante l’interesse iniziale, le ciglia sono state dimenticate fino alla microscopia elettronica del 1953, evidenziando il loro ruolo chiave come sensori molecolari e nelle ciliopatie.

BEX: BSE imaging e analisi chimica EDS con un unico detector

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C’è un nuovo detector che rivoluzionerà le tue analisi al SEM, è di Oxford Instruments ed è il primo al mondo a combinare segnali di elettroni retrodiffusi e raggi X ? per produrre immagini a colori ad alta definizione con dati elementari.

Analisi chimica con EDS: 5 errori da evitare

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Puoi dire di non sbagliare mai utilizzando la tua hashtag#microanalisi? ?L’analisi hashtag#EDS può rivelare errori di rilevamento degli elementi dovuti a parametri non ottimali. ?L’acquisizione di immagini per la morfologia potrebbe compromettere l’analisi chimica. Gli operatori del SEM devono bilanciare le condizioni per evitare errori di rilevazione o sottostima degli elementi. Leggi i 5 errori più comuni e dicci se ne riconosci qualcuno ?
hashtag#SEM hashtag#EDX hashtag#MicoscopiaElettronica

Super Sconto per Luglio e solo fino a fine Luglio! ??

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Il Corso completo di Preparativa dei campioni per SEM è ora disponibile ad un terzo del prezzo, solo fino al 31 Luglio!??‍♀️ ?????5 Moduli: 1. Introduzione alla Preparativa dei campioni per SEM ? 2. Preparativa dei campioni in Scienze della Vita ? 3. Preparativa dei campioni in Scienze dei Materiali ⚙ 4. Preparativa dei campioni […]

Siamo entusiasti di tornare a tenere un corso SEM

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Siamo entusiasti di annunciare il lancio del nostro nuovo corso sulla microscopia elettronica a scansione! #SEM ? Se sei un appassionato di microscopia elettronica a scansione o un professionista desideroso di approfondire le tue competenze, questo corso è pensato appositamente per te. ?? La microscopia elettronica a scansione offre un’incredibile opportunità di esplorare il micro e il […]

Site Survey: a caccia dell’interferenza nascosta

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I campi magnetici esterni e le vibrazioni possono spesso influire sulle prestazioni di un microscopio elettronico, riducendo la qualità e la risoluzione dell’immagine. I sopralluoghi prima dell’installazione sono fondamentali per scoprire qualsiasi potenziale fonte di interferenza e sono il primo passo per creare un ambiente stabile, ma richiedono attrezzature appositamente progettate per la misurazione e l’analisi dell’acustica, dei campi magnetici e delle vibrazioni nelle direzioni X, Y e Z.

Controllo qualità su impianti dentali mediante tecnica SEM-EDS

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La tecnica SEM-EDS rappresenta il migliore strumento a disposizione dei produttori di impianti dentali per poter eseguire un controllo qualità adeguato e affidabile, in quanto con il microscopio elettronico a scansione si analizza la morfologia del campione e con la microanalisi gli elementi chimici presenti