Nano-lavorazione con FIB-SEM per la preparazione dei campioni per le analisi al TEM
Il microscopio Dual Beam DB500 di CIQTEK unisce fascio elettronico e ionico per analisi e preparazione di campioni a livello nanometrico. Ideale per la ricerca avanzata in nanotecnologie, scienza dei materiali e semiconduttori, offre prestazioni eccezionali, risoluzione elevata e versatilità nelle applicazioni. Dispone di un nano-manipolatore integrato e un sistema di espansione che lo rende uno strumento potente per la ricerca e l’industria.