Nano-lavorazione con FIB-SEM per la preparazione dei campioni per le analisi al TEM
Il microscopio Dual Beam DB500 di CIQTEK unisce fascio elettronico e ionico per analisi e preparazione di campioni a livello nanometrico. Ideale per la ricerca avanzata in nanotecnologie, scienza dei materiali e semiconduttori, offre prestazioni eccezionali, risoluzione elevata e versatilità nelle applicazioni. Dispone di un nano-manipolatore integrato e un sistema di espansione che lo rende uno strumento potente per la ricerca e l’industria.
Site Survey: a caccia dell’interferenza nascosta
I campi magnetici esterni e le vibrazioni possono spesso influire sulle prestazioni di un microscopio elettronico, riducendo la qualità e la risoluzione dell’immagine. I sopralluoghi prima dell’installazione sono fondamentali per scoprire qualsiasi potenziale fonte di interferenza e sono il primo passo per creare un ambiente stabile, ma richiedono attrezzature appositamente progettate per la misurazione e l’analisi dell’acustica, dei campi magnetici e delle vibrazioni nelle direzioni X, Y e Z.