Cryo-SEM e celle di Peltier
Microscopi Elettronici “Cryo”, sia a scansione (SEM) che a trasmissione (TEM), sono ampiamente utilizzati per la caratterizzazione di campioni biologici o di altri materiali con un elevato contenuto di acqua.
Con questo termine in realtà si possono intendere due diverse tipologie di analisi a bassa temperatura, una è la tecnica Cryo-EM vera e propria, mentre l’altra si avvale di un particolare stage portacampioni da utilizzare per le analisi con un SEM tradizionale.
Leggi il nostro ultimo articolo per approfondire l’argomento delle analisi a bassa temperatura al Microscopio elettronico.
Microscopio elettronico a scansione: Caratterizzazione meccanica dei materiali all’interno del SEM
L’evoluzione della microscopia elettronica SEM punta all’analisi correlativa in-situ. Grazie all’ampia camera e alla flessibilità dei sistemi Ciqtek, è ora possibile combinare imaging ad alta risoluzione con test meccanici, elettrici e termici (da -170 a 1200 °C). Scopri come questa tecnologia ha permesso di identificare la fatica meccanica del litio nelle batterie a stato solido in una recente pubblicazione su Science.
SEM con In-Lens o senza In-Lens?
Il futuro della microscopia elettronica a scansione si basa sull’integrazione di tecnologie avanzate, ma come possiamo bilanciare risoluzione e accessibilità?
Il nostro ultimo articolo confronta i microscopi elettronici a scansione (SEM) con e senza rivelatore In-Lens, evidenziando le peculiarità tecniche e le differenze prestazionali.
Il rivelatore In-Lens, posizionato all’interno della lente obiettivo, cattura in modo selettivo ed efficiente gli elettroni secondari SE1, responsabili dei dettagli superficiali ad alta risoluzione.
Questo si traduce in una risoluzione spaziale superiore, una maggiore sensibilità superficiale e la possibilità di filtrare le energie per distinguere tra contrasto topografico e composizionale. I SEM con tecnologia In-Lens sono spesso accoppiati a sorgenti a emissione di campo (FEG), offrendo eccellenti prestazioni anche a basse tensioni, ma a costi e complessità operativi maggiori, richiedendo un vuoto ultra-spinto.
Standard di Calibrazione per il SEM
La calibrazione non è una semplice procedura, ma una necessità per garantire l’affidabilità delle misurazioni. L’accreditamento dei laboratori, richiesto da normative come la ISO 17025, dipende dalla capacità di dimostrare l’accuratezza e la tracciabilità delle proprie misurazioni attraverso l’uso di standard certificati.
Prendiamo, ad esempio, l’ingrandimento. La “scale bar” che appare nelle immagini SEM fornisce un’indicazione immediata delle dimensioni, ma la sua affidabilità è garantita solo da una calibrazione periodica.
Errori che possono raggiungere il 10% sono comuni se non si utilizzano standard specifici.
Oltre all’ingrandimento, la calibrazione è vitale per la risoluzione, ovvero la capacità dello strumento di distinguere punti molto vicini tra loro. Sebbene non esista un metodo standard internazionale, l’utilizzo di campioni con particelle di oro o stagno è cruciale per validare le prestazioni dello strumento. Le immagini ad alta risoluzione dovrebbero essere nitide, con un buon rapporto segnale/rumore, e queste caratteristiche sono garantite solo da una corretta calibrazione.
La Microscopia elettronica a scansione secondo noi.
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