Il CIQTEK SEM 5000 X è un FESEM a ultra-alta risoluzione progettato per la ricerca avanzata sui nanomateriali e lo sviluppo di semiconduttori di ultima generazione. Grazie a un’ottimizzazione della colonna ottica elettronica, riduce le aberrazioni complessive del 30%, raggiungendo una risoluzione di 0,6 nm a 15 kV e 1,0 nm a 1 kV. La sua elevata stabilità e precisione lo rendono uno strumento essenziale per l’analisi strutturale su scala nanometrica.
Il software integrato utilizza algoritmi avanzati di rilevamento e segmentazione, adattabili a diversi tipi di campioni, permettendo analisi quantitative di particelle e pori in ambiti come la scienza dei materiali, la geologia e le scienze ambientali. Le immagini acquisite possono essere elaborate sia online che offline, con strumenti per misurazioni, annotazioni e riconoscimento automatico dei bordi, migliorando l’accuratezza e la ripetibilità delle analisi. Il sistema supporta vari formati immagine e include funzioni avanzate di post-elaborazione.
L’interfaccia software consente il controllo completo del microscopio, dalla gestione dell’acquisizione delle immagini ai settaggi operativi, fino al controllo del tavolino porta-campioni e delle condizioni di funzionamento. Grazie a un’interfaccia intuitiva e facilmente personalizzabile, è possibile sviluppare script per operazioni automatizzate, come il tracciamento di regioni di interesse, l’acquisizione di dati per l’automazione industriale e la correzione della deriva dell’immagine. Il sistema è adatto anche per applicazioni specifiche, come l’analisi delle diatomee, il controllo delle impurità nell’acciaio, lo studio della pulizia dei materiali e il monitoraggio della qualità delle materie prime.
Il CIQTEK SEM 5000 X rappresenta una soluzione potente e versatile per la ricerca scientifica e le applicazioni industriali, combinando elevata risoluzione, software avanzato e capacità di automazione per un’analisi elettronica di precisione.