Oxford Instruments

Soluzioni Oxford Instruments per EDS, EBSD, WDS

Oxford Instruments Nano Analysis sviluppa strumenti all’avanguardia per la caratterizzazione dei materiali e la manipolazione dei campioni su scala nanometrica. Le sue soluzioni avanzate, utilizzate su microscopi elettronici (SEM e TEM) e sistemi a fasci di ioni (FIB), trovano applicazione in settori come semiconduttori, energie rinnovabili, estrazione mineraria, metallurgia e medicina legale.

Specializzata in tecniche di microanalisi come EDS, EBSD e WDS, Oxford Instruments Nano Analysis garantisce prestazioni elevate per la ricerca e lo sviluppo sia in ambito accademico che industriale. Media System Lab è partner per l’Italia e opera anche in Europa, fornendo supporto tecnico e commerciale di alto livello.

Strumenti Oxford Instruments Nano Analysis per EDS, EBSD, WDS

Approfondimenti e ultime novità tecniche e applicative

Leggi i nostri nuovi articoli e application note su tematiche ispirate dalle ultime novità dal mondo della microscopia.

LVEM delong instruments
Articoli Tecnici

Applicazioni LVEM: Polimeri

Il microscopio elettronico a trasmissione tradizionale richiede l’acetato di uranile per il contrasto, comportando alti costi e rischi.

E’ stato dimostrato come la Microscopia Elettronica a Bassa Tensione (LVEM) sia un’alternativa eccellente.

Testando quattro protocolli su macrofagi, i ricercatori hanno provato che l’LVEM di Delong Instruments genera un contrasto

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SEM microscopia elettronica microscopio elettronico
Articoli Tecnici

Il contrasto di potenziale nel SEM

Terre rare ne abbiamo?
Piccole aree evidenti e brillanti che si staccano nettamente dal fondo: è così che le Terre Rare si rivelano al microscopio elettronico all’interno delle rocce italiane.

L’analisi SEM-EDS è fondamentale per individuare ed esaminare le Terre Rare (come lantanio, cerio e neodimio) presenti in minime

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terre rare sem
Articoli Tecnici

Analisi SEM-EDS di rocce di scavo italiane contenenti terre rare

Terre rare ne abbiamo?
Piccole aree evidenti e brillanti che si staccano nettamente dal fondo: è così che le Terre Rare si rivelano al microscopio elettronico all’interno delle rocce italiane.

L’analisi SEM-EDS è fondamentale per individuare ed esaminare le Terre Rare (come lantanio, cerio e neodimio) presenti in minime

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critical point dryer
Articoli Tecnici

Critical Point Dryer

Terre rare ne abbiamo?
Piccole aree evidenti e brillanti che si staccano nettamente dal fondo: è così che le Terre Rare si rivelano al microscopio elettronico all’interno delle rocce italiane.

L’analisi SEM-EDS è fondamentale per individuare ed esaminare le Terre Rare (come lantanio, cerio e neodimio) presenti in minime

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terre rare sem
Articoli Tecnici

Analisi SEM-EDS di rocce di scavo italiane contenenti terre rare

Terre rare ne abbiamo?
Piccole aree evidenti e brillanti che si staccano nettamente dal fondo: è così che le Terre Rare si rivelano al microscopio elettronico all’interno delle rocce italiane.

L’analisi SEM-EDS è fondamentale per individuare ed esaminare le Terre Rare (come lantanio, cerio e neodimio) presenti in minime

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terre rare sem
Articoli Tecnici

Analisi SEM-EDS di rocce di scavo italiane contenenti terre rare

Terre rare ne abbiamo?
Piccole aree evidenti e brillanti che si staccano nettamente dal fondo: è così che le Terre Rare si rivelano al microscopio elettronico all’interno delle rocce italiane.

L’analisi SEM-EDS è fondamentale per individuare ed esaminare le Terre Rare (come lantanio, cerio e neodimio) presenti in minime

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