Il CIQTEK SEM 4000 Pro è un microscopio elettronico a scansione a emissione di campo (FE-SEM) progettato per applicazioni analitiche avanzate. Dotato di un cannone elettronico a emissione di campo Schottky ad alta luminosità e lunga durata, offre un design a tre stadi di lenti elettromagnetiche, garantendo prestazioni eccellenti in tecniche analitiche come EDS/EDX, EBSD e WDS.
Il modello include di serie una modalità a basso vuoto e un rilevatore di elettroni secondari ad alte prestazioni per il basso vuoto, oltre a un rilevatore retrattile di elettroni retrodiffusi, che facilita l’osservazione di campioni con scarsa conducibilità o non conduttivi.
Il software del CIQTEK SEM 4000 pro utilizza avanzati algoritmi di rilevamento e segmentazione per l’analisi di particelle e pori, consentendo valutazioni quantitative applicabili a campi come scienza dei materiali, geologia ed ecologia. Il sistema integra strumenti di elaborazione e annotazione delle immagini, sia online che offline, e supporta riconoscimento automatico dei bordi, migliorando l’accuratezza e la coerenza delle misurazioni. È compatibile con più formati immagine e include funzioni avanzate di post-processing.
Il dispositivo offre interfacce intuitive per il controllo del SEM, inclusi acquisizione immagini, impostazioni operative, gestione dell’alimentazione e controllo del tavolino porta-campioni. Grazie a un’interfaccia chiara e modulabile, è possibile sviluppare rapidamente script e software personalizzati per automazione industriale, acquisizione dati, correzione della deriva delle immagini e altre applicazioni specializzate come analisi diatomee, ispezione delle impurità nell’acciaio, analisi della pulizia e controllo delle materie prime.
Il CIQTEK SEM 4000 Pro combina dunque elevate prestazioni analitiche e flessibilità operativa, offrendo una soluzione potente e versatile per l’osservazione e l’analisi di campioni in molteplici ambiti scientifici e industriali.