L’esclusivo standard di calibrazione EM-Tec LAMC-15 è stato progettato per la calibrazione di grandi aree e bassi ingrandimenti. È costruito utilizzando un substrato di silicio conduttivo ultrapiatto su cui sono depositate linee di cromo lucido. Ideale per SEM e microscopia a luce riflessa con le seguenti applicazioni:
- Calibrazione a basso ingrandimento
- Calibrazione dell’ingrandimento su vasta area
- Misure di analisi delle particelle
- Misure GSR
- Misure di linearità e riproducibilità del microscopio
- Sistemi di imaging digitale