Il CIQTEK SEM 3200 è un microscopio elettronico a scansione (SEM) a filamento di tungsteno ad alte prestazioni, progettato per un utilizzo universale con eccellenti capacità generali. La sua esclusiva struttura del cannone elettronico Dual-anode garantisce alta risoluzione e migliora il rapporto segnale-rumore dell’immagine anche a bassi voltaggi di eccitazione. Inoltre, offre un’ampia gamma di accessori opzionali, rendendolo uno strumento analitico versatile con eccezionale espandibilità.
Il software include algoritmi avanzati di rilevamento e segmentazione, ideali per l’analisi quantitativa di particelle e pori in ambiti come scienza dei materiali, geologia e scienze ambientali. Permette l’elaborazione delle immagini online e offline, con strumenti intuitivi per misurazioni, annotazioni e funzioni di post-processing delle immagini elettroniche. Il riconoscimento automatico dei bordi garantisce misurazioni più accurate e coerenti, supportando diverse modalità di rilevamento come Line, Space e Pitch.
L’interfaccia software consente il controllo completo del microscopio, dall’acquisizione delle immagini alla gestione delle impostazioni operative, alimentazione e movimento dello stage. Grazie a un’architettura intuitiva, è possibile sviluppare rapidamente script personalizzati per il controllo del SEM, abilitando automazione industriale, tracciamento delle regioni di interesse e correzione della deriva dell’immagine. Questo sistema è adatto a numerose applicazioni specialistiche, tra cui analisi delle diatomee, ispezione delle impurità nell’acciaio, controllo della pulizia e gestione delle materie prime.
Con il CIQTEK SEM 3200, la precisione dell’analisi e la versatilità operativa si incontrano, offrendo un’esperienza d’uso avanzata e intuitiva.