Il CIQTEK SEM 3300 è un microscopio elettronico a scansione (SEM) con filamento di tungsteno ad altissima risoluzione, che integra tecnologie avanzate come ottica elettronica “Super-Tunnel”, rivelatori in-lens e lente obiettivo elettrostatica ed elettromagnetica combinata. Grazie a queste innovazioni, supera i limiti di risoluzione tradizionali dei SEM a filamento di tungsteno, consentendo analisi a basso voltaggio prima possibili solo con SEM a emissione di campo.
Il software impiega avanzati algoritmi di rilevamento e segmentazione per l’analisi quantitativa di particelle e pori, applicabili in scienza dei materiali, geologia ed ecologia. Offre strumenti per il post-processing delle immagini sia online che offline, con funzionalità di misura, annotazione e riconoscimento automatico dei bordi, garantendo maggiore precisione e coerenza. Supporta vari formati di immagine e più modalità di rilevamento dei bordi, come Line, Space, Pitch, migliorando l’efficienza dell’analisi.
L’interfaccia software consente il controllo completo del SEM, dalla gestione delle condizioni operative all’acquisizione di immagini, fino al controllo del tavolino di campionamento. La sua struttura intuitiva permette lo sviluppo rapido di script per automatizzare analisi avanzate, come il monitoraggio di regioni di interesse, la correzione della deriva dell’immagine e l’acquisizione automatizzata di dati per l’industria. È ideale per applicazioni specialistiche, tra cui analisi diatomee, ispezione di impurità nell’acciaio, controllo della pulizia e verifica delle materie prime.
Il CIQTEK SEM 3300 combina la versatilità dei SEM a tungsteno con una risoluzione senza precedenti, rendendolo lo strumento ideale per analisi di precisione a basso voltaggio.