Il CIQTEK SEM 4000 X è un microscopio elettronico a scansione a emissione di campo (FE-SEM) stabile, versatile ed efficiente, capace di raggiungere una risoluzione di 1.9 nm@1.0 kV e di affrontare con facilità le sfide dell’imaging ad alta risoluzione su diversi tipi di campioni. Può essere aggiornato con una modalità di ultra-decelerazione del fascio, migliorando ulteriormente la risoluzione a basso voltaggio.
Grazie alla tecnologia multi-rivelatore, il rilevatore in colonna (UD) è in grado di captare segnali SE e BSE con elevate prestazioni di risoluzione, mentre il rilevatore montato in camera (LD) utilizza scintillatori a cristallo e tubi fotomoltiplicatori per una maggiore sensibilità ed efficienza, generando immagini stereoscopiche di qualità eccellente.
L’interfaccia grafica è intuitiva e integra funzioni automatizzate come regolazione automatica di luminosità e contrasto, messa a fuoco, stigmator e allineamento, permettendo di ottenere rapidamente immagini ultra-dettagliate.
Il software CIQTEK SEM utilizza algoritmi avanzati di rilevamento e segmentazione, ottimizzati per vari tipi di campioni particellari e porosi, consentendo un’analisi quantitativa in settori come scienza dei materiali, geologia ed ecologia. È possibile elaborare le immagini online o offline, con strumenti per la misurazione e l’annotazione, supportando diversi formati e modalità di rilevamento dei bordi per misurazioni più precise e coerenti.
Il sistema fornisce un set completo di interfacce per il controllo del microscopio, comprese le impostazioni di acquisizione delle immagini, le condizioni operative, l’accensione/spegnimento e il movimento del palco. L’architettura software, chiara e flessibile, consente lo sviluppo rapido di script personalizzati per operazioni specifiche, come analisi di diatomee, ispezione delle impurità nell’acciaio, controllo della pulizia e analisi delle materie prime.
Il CIQTEK SEM 4000 X combina precisione, efficienza e automazione, offrendo prestazioni di imaging eccezionali per un’ampia gamma di applicazioni scientifiche e industriali.