Pinzette industriali Value-Tec
Le potenti pinzette o pinze industriali Value-Tec sono realizzate in solido acciaio inossidabile magnetico. L’acciaio inossidabile magnetico combina robustezza, tenacità e buona resistenza alla corrosione per queste pinzette industriali più grandi. Progettato per applicazioni di movimentazione, raccolta, selezione, assemblaggio e pulizia. Buone pinzette da portare in campo per la preparazione, la riparazione, l’assemblaggio, le applicazioni […]
Pinza in acciaio inossidabile resistente alle pinze Value-Tec
Le potenti pinzette con presa in fibra Value-Tec sono realizzate in acciaio inossidabile magnetico per una maggiore resistenza. Includono impugnature imbottite in fibra per una migliore maneggevolezza. Queste pinzette o pinze potenti sono destinate a oggetti più grandi e pesanti.
Pinzette fini in acciaio inossidabile Value-Tec
Le pinzette per uso generico Value-Tec sono realizzate in acciaio inossidabile massiccio e destinate ad applicazioni di uso generale. L’acciaio inossidabile solido offre una buona resistenza alla corrosione da acidi, sali, oli e solventi deboli. Resistenza alla corrosione superiore rispetto alle pinzette in acciaio al carbonio nichelato. Queste pinzette in acciaio inossidabile massiccio rappresentano un […]
Pinzette con punta in ceramica Value-Tec ZTA
Le pinzette con punta in ceramica della serie ZTA Value-Tec presentano un valore eccezionale nelle pinzette con punta in ceramica. Queste pinzette sono realizzate con manici in acciaio inossidabile a cui sono fissate le punte in ceramica. Il materiale utilizzato per le punte in ceramica ZTA è un allumina indurita con zirconia (ZTA). Questo è […]
Pinzette in plastica rinforzata con fibra di carbonio ESD EM-Tec
Pinzette in plastica rinforzata con fibra di carbonio ESD EM-Tec destinate alla manipolazione di materiali fragili o sensibili ai graffi, materiali magnetici e applicazioni chimiche difficili. Queste pinzette di alta qualità realizzate in Svizzera sono disponibili in due materiali: Le pinzette EM-Tec CT sono realizzate in polivinilidene fluoruro (PVDF) rinforzato con fibra di carbonio al […]
Pinzette con punta in ceramica intercambiabile EM-Tec ZC
Le pinzette a punta ceramica sostituibili EM-Tec ZC combinano i vantaggi delle esclusive punte a pinza in ceramica ad alta resistenza / durezza con le maniglie ferme delle pinzette in acciaio inossidabile. Il materiale utilizzato per le punte in ceramica sostituibili ZC è un’allumina indurita con zirconia (ZTA). Le punte in ceramica ZC presentano sia […]
Pinzette con punta in ceramica sostituibili sicure EM-Tec ZE ESD
Introduzione Le pinzette per punte in ceramica sostituibili EM-Tec ZE combinano i vantaggi delle esclusive punte per pinzette in ceramica sicura ESD ad alta resistenza / elevata durezza con le maniglie ferme delle pinzette in acciaio inossidabile. Il materiale utilizzato per le punte in ceramica sostituibili sicure ESD è un allumina indurita con zirconio (ZTA) […]
Pinzette EM-Tec CT ESD sostituibili in plastica
IntroduzioneLe pinzette con punta in plastica sostituibili EM-Tec combinano i vantaggi delle pinzette con protezione ESD a punta morbida con le maniglie ferme delle pinzette in acciaio inossidabile. Il materiale utilizzato per le punte in plastica sostituibili è lo stesso delle pinzette in plastica EM-Tec CT: materiale ESD sicuro e resistente con eccellente resistenza chimica. […]
Pinzette di movimentazione EM-Tec per scatole cryo grid
Le pinzette di precisione per la manipolazione di griglie a griglia sono state appositamente progettate per gestire le piccole scatole a griglia per criogeniche utilizzate per conservare la griglia TEM sotto azoto liquido. Possono essere utilizzati con la scatola griglia EM-Tec GB4 e altre scatole griglia crio di design simile con un coperchio rotante e […]
Pinzette EM-Tec SEM per tronchesi
Le pinzette a pinza EM-Tec SEM sono pinzette appositamente progettate per afferrare saldamente mozzi e supporti SEM. Con le pinzette a pinza EM-Tec SEM, è possibile gestire tronchetti e montaggi SEM senza toccarli manualmente. Ideale per una manipolazione pulita e per evitare problemi di contaminazione. Le pinzette a pinza SEM sono realizzate in acciaio inossidabile […]
Pinzette di manipolazione di wafer di precisione EM-Tec
Le pinzette di manipolazione di wafer di precisione EM-Tec sono realizzate in acciaio inossidabile antimagnetico conduttivo. Esibiscono una più grande paletta inferiore a gradini per sostenere il wafer e una cima di serraggio con montanti.
Pinzette a chiusura inversa ad alta precisione con chiusura automatica EM-Tec
Le pinzette antimagnetiche ad azione inversa ad alta precisione EM-Tec sono pinzette di alta qualità progettate con precisione in Svizzera. Sono anche chiamati pinzette a chiusura automatica, crossover o di tipo X. Queste eccellenti pinzette a chiusura automatica presentano bordi lisci e una finitura opaca superiore per ridurre i riflessi.
Pinzette in lega super EM di alta precisione EM-Tec
Le pinzette in lega super EM di alta precisione EM-Tec sono pinzette di alta qualità prodotte in Svizzera con bordi lisci e una finitura opaca superiore per ridurre i riflessi. Queste pinzette di qualità superiore sono realizzate con una speciale super lega Ni-Cr-Mo. Questa super lega è circa sei volte più dura dell’acciaio inossidabile antimagnetico […]
Pinzette sottili di alta precisione EM-Tec
Le pinzette sottili di alta precisione EM-Tec sono pinzette di alta qualità e con punte fini prodotte in Svizzera. Presentano bordi lisci e una finitura opaca superiore per ridurre i riflessi. Ideale per raggiungere luoghi stretti e quando si lavora con sostanze chimiche o fonti di calore; sono più lunghe delle pinzette standard di alta […]
Mini pinzette antimagnetiche di precisione EM-Tec
Le mini pinzette EM-Tec di alta precisione sono pinzette di alta qualità prodotte in Svizzera con punte fini. Presentano bordi lisci e una finitura opaca superiore per ridurre i riflessi. Ideale per lavorare in spazi ristretti e lavori di precisione a corto raggio. Sono realizzati in acciaio inossidabile antimagnetico speciale, a basso tenore di carbonio […]
Pinzette di bloccaggio antimagnetico di alta precisione EM-Tec
Le pinzette di bloccaggio antimagnetico di alta precisione EM-Tec sono pinzette di alta qualità realizzate in Svizzera con bordi lisci e una finitura opaca superiore per ridurre l’abbagliamento. Le pinzette di bloccaggio EM-Tec includono un meccanismo di bloccaggio scorrevole con motivo antiscivolo per mantenere chiuse le punte delle pinzette. Quando il cursore di bloccaggio integrato […]
Pinzette in titanio di alta precisione EM-Tec
Le pinzette in titanio di alta precisione EM-Tec sono prodotte in Svizzera, pinzette di alta qualità progettate con precisione con bordi lisci e una finitura opaca superiore per ridurre l’abbagliamento. Sono realizzati in titanio resistente, resistente e leggero di grado 1. Il titanio presenta una buona resistenza alla corrosione di sali, acidi a bassa concentrazione, […]
Pinzette antimagnetiche di alta precisione EM-Tec
Le pinzette antimagnetiche di alta precisione EM-Tec sono pinzette di alta qualità realizzate in Svizzera con bordi lisci e una finitura opaca superiore per ridurre i riflessi. Sono realizzati in acciaio inossidabile speciale, a basso tenore di carbonio e ad alta resistenza. Questo materiale resistente presenta una buona resistenza alla corrosione di sali, acidi a […]
Pinzette per biologia di precisione ultra-EM-Tec
Le pinzette per biologia EM-Tec sono pinzette prodotte in Svizzera ad altissima precisione con: pinzette per biologia ad altissima precisione con profilo della maniglia, impugnature dentellate, bordi lisci e finitura satinata superiore. Queste pinzette per biologia superiore sono realizzate in super lega C-Star Ni-Cr-Mo. Il profilo e la forma delle pinzette ad alta biologia EM-Tec […]
Vetrini per microscopio in metallo nero Micro-Tec
I vetrini per microscopi in metallo nero Micro-Tec sono ideali per supportare campioni metallografici, petrografici e geologici incorporati per la microscopia a luce riflettente. Le diapositive di supporto per microscopio in metallo nero Micro-Tec sono realizzate in alluminio anodizzato nero opaco. La superficie nera opaca riduce il riflesso della luce. Il metallo in alluminio è […]
Vetrini e vetrini per microscopio al quarzo Micro-Tec
I vetrini e i vetrini per microscopio al quarzo Micro-Tec sono utilizzati principalmente per applicazioni di microscopia in cui è necessaria una maggiore trasparenza UV. Altre applicazioni includono requisiti per prestazioni ottiche migliorate, ridotto assorbimento della luce, stabilità alle alte temperature, stabilità chimica e trasparenza delle radiazioni UV. I vetrini per microscopio al quarzo Micro-tec […]
Vetrini per microscopio in vetro Micro-Tec
I vetrini per microscopio in vetro Micro-Tec di prima qualità sono realizzati in vetro soda calce di qualità selezionata, otticamente trasparente e resistente alla corrosione. Tutte le diapositive comprendono bordi rettificati di precisione sono pre-pulite. Questo vetro a basso contenuto di calce gassata non presenta notevoli interferenze dalla luce UV nell’intervallo 250-350 nm.
Vetrino per microscopio rivestito in oro Nano-Tec
I vetrini per microscopio rivestiti in oro Nano-Tec sono destinati ad applicazioni in microscopia, AFM / SPM, nanotecnologia e biotecnologia. Sono anche utili come supporti per microscopia ottica opaca. I vetrini per microscopio vengono pre-puliti prima del rivestimento e rivestiti con un 50nm di Au su uno strato di adesione di 5nm di Cr. Sia […]
Wafer di silicio con rivestimento in oro Nano-Tec
I wafer di silicio rivestiti in oro Nano-Tec sono utili per la ricerca di film sottili, AFM / SPM, nanotecnologia e applicazioni biotecnologiche. I wafer di silicio sono rivestiti con 50 nm di oro puro su uno strato di adesione di 5 nm di Cr. Sia Cr che Au sono depositati in un sistema di […]
Dischi per substrati di quarzo Micro-Tec
I dischi per substrati di quarzo Micro-Tec sono ideali per analisi di film sottile, ad alta temperatura, UV o ottica. Sono realizzati in quarzo fuso di tipo GE124 ad elevata purezza. Il materiale ha un’eccellente resistenza chimica con un’ampia varietà di acidi, basi e solventi (eccetto l’acido fluoridrico e quello fosforico). Presentano inoltre un’eccellente stabilità […]
Dischi e fogli di mica muscovite Nano-Tec
I dischi e le lastre di mica Nano-Tec sono destinati all’uso con microscopia a scansione, microscopia elettronica e film sottile. Nano-Tec offre mica muscovite a fogli o mica rubino della massima qualità V-1, scelto per la sua eccellente cleavability e per l’assenza di inclusioni o bolle. È trasparente o traslucido con sfumature dal rubino al […]
EM-Tec substrato griglia SEM finder in silicio
Il nuovo substrato griglia EM-Tec FG1 SEM Finder in silicio è costituito da una griglia depositata cromata 12x12mm con un passo di 1 mm su un substrato conduttivo ultrapiatto in silicio. Il substrato è diviso in 144 campi indicizzati di 1x1mm dove ciascuno dei campi ha un’etichetta alfanumerica unica nell’angolo in basso a destra. L’etichetta […]
Wafer di silicio, substrati e supporti per campioni
Il silicio lucido è un substrato eccellente per le applicazioni di imaging, esperimenti, nanotecnologie e microproduzione. È disponibile sotto forma di wafer, wafer a cubetti o come trucioli più piccoli (pezzi). Il wafer e i chip di silicio hanno tutti un orientamento <100>. La divisione dei wafer nella dimensione desiderata con <100> wafer di orientamento […]
Dischi in carbonio vitreo e dischi/piastre in grafite
Gli stub SEM standard utilizzati in un SEM sono quasi tutti realizzati in alluminio e talvolta in ottone. Questo va bene per molte applicazioni se il campione è abbastanza grande e può essere montato direttamente sullo stub. Tuttavia, per piccoli campioni, polveri, particelle in soluzioni e fibre, la finitura e il materiale dello stub possono […]
Fluido di rivestimento SEM conduttivo
Il fluido di rivestimento SEM ionico conduttivo BEL-1 offre un’alternativa semplice ed economica per il rivestimento di campioni non conduttivi con uno strato superficiale conduttivo. Invece di utilizzare una sputter coater con un bersaglio in metallo prezioso, il campione deve essere immerso in una soluzione di rivestimento SEM conduttiva diluita per diversi minuti.
Cristalli di quarzo EM-Tec per monitor / controller di spessore
I cristalli di quarzo EM-Tec sono particolarmente adatti per monitor di spessore, controllori di spessore e microbilance in cristallo di quarzo (QCM) utilizzate con spalmatrici SEM e sistemi di evaporazione del carbonio EM e sistemi di deposizione sotto vuoto.
Barre di carbonio per l’evaporazione del carbonio
Le barre di carbonio ad altissima purezza vengono utilizzate per l’evaporazione del carbonio nelle applicazioni EM. O per rivestire campioni non conduttivi con un sottile strato di carbonio o per produrre film di supporto per campioni TEM. La struttura delle barre di carbonio è in realtà una grafite di elevata purezza che si forma durante […]
Targhet Disc pr Sputter
I target in metalli preziosi per sputter di elevata purezza sono compatibili con ogni modello di sputter coater. Gli sputter coaters sono usati per depositare uno strato molto sottile di metallo conduttivo su un campione non conduttivo al fine di rendere il campione misurabile con un microscopio elettronico a scansione (SEM). Gli obiettivi di sputtering […]
Sorgenti di evaporazione rivestite di allumina
Le sorgenti di evaporazione rivestite in allumina presentano un design innovativo, che combina i benefici di una sorgente di evaporazione con un crogiolo di allumina. Il risultato è una gamma di piccoli crogioli di allumina con caratteristiche termiche che rendono il riscaldamento molto efficiente. Le sorgenti rivestite in allumina formano un involucro per contenere il […]
Fili e materiali metallici EM-Tec per evaporazione sotto vuoto
I fili di elevata purezza EM-Tec sono appositamente selezionati per il rivestimento sotto vuoto di campioni EM. I fili possono essere facilmente tagliati su misura e utilizzati in bobine di evaporazione, barche o filamenti. La piccola quantità di materiale e l’area di contatto relativamente grande con le fonti di evaporazione consentono l’evaporazione con alimentatori di […]
Contenitori di spedizione EM-Storr per il trasporto di campioni EM
Essiccatori a vuoto EM-Storr di dimensioni standardIl contenitore per la conservazione dei campioni sotto vuoto EM-Tec EM-Storr è stato appositamente sviluppato da noi per conservare e proteggere i campioni SEM / FIB / TEM e gli standard di calibrazione sotto vuoto. Protegge campioni preziosi da aria, umidità e polvere. Il contenitore per vuoto EM-Storr di […]
Kit sigillante resina epossidica vuoto Hysol 1C / Torr Seal
La colla e il sigillante epossidici ad alto vuoto Hysol 1C sono ideali per sigillare perdite su sistemi a vuoto, incollare componenti a vuoto, riparare componenti a vuoto e sigillare passaggi elettrici su sistemi a vuoto elevato. Il sigillante epossidico Hysol 1C è completamente equivalente al sigillante Torr Seal. È un sistema di resina epossidica […]
Olio per vuoto per pompe per vuoto a palette
Oli per vuoto di alta qualità per pompe per vuoto rotative a palette standard migliorano le prestazioni delle pompe per vuoto rotative utilizzate su microscopi elettronici a scansione e trasmissione, sistemi di sputtering, forni a vuoto, scarico a bagliore e altri sistemi di vuoto. Gli oli originali per pompe per vuoto di marca offerti sono […]
Flange da vuoto EM-Tec
Le flange da vuoto KF EM-Tec e tutti i loro componenti sono direttamente compatibili con tutte le connessioni a flangia da vuoto KF, NW e QF. Queste connessioni flangiate di vuoto standard e medio hanno denominazioni intercambiabili, tra cui: KF, DN-KF, ISO-KF, NW, ISO-NW, QF e DN.
Manometri per test del vuoto a controllo rapido Micro-Tec
L’indicatore di prova del vuoto a controllo rapido Micro-Tec consente un modo rapido e semplice per testare le prestazioni del vuoto, testare i tempi di inattività della pompa e determinare le perdite nelle linee del vuoto. Poiché il vacuometro Micro-Tec Quick-check non richiede una fonte di alimentazione esterna, è ideale per applicazioni sul campo o […]
Vacuometri portatili di precisione Bullseye
Il vacuometro di precisione portatile Bullseye presenta un nuovo livello nella misurazione del vuoto portatile. Con i robusti indicatori e le robuste unità di controllo offre flessibilità e connettività senza rivali. Gli indicatori Bullseye abilitati Bluetooth consentono il monitoraggio da dispositivi mobili (Android o Apple), le impostazioni di allarme e la documentazione dei dati relativi […]
Standard di calibrazione per graticole individuali Micro-Tec
I nuovi e innovativi standard di calibrazione dei singoli reticoli Micro-Tec sono stati progettati utilizzando un substrato di silicio conduttivo ultrapiatto con linee Cr resistenti alla corrosione. Sono fabbricati utilizzando le più recenti tecniche di produzione di semiconduttori. Gli standard di calibrazione del reticolo Micro-Tec forniscono immagini ad alto contrasto per facilitare la calibrazione. Ciascuno […]
Micrometri per lo stage e reticoli per microscopia ottica
Questi micrometri a stadio preciso di alta qualità sono destinati alla calibrazione di microscopi ottici standard, microscopi digitali, stereo microscopi e reticoli oculari. Sono disponibili reticoli aggiuntivi per conteggio, localizzatori e schemi di test. I motivi sono prodotti da linee di cromo depositate sotto vuoto su vetro. Il cromo depositato è resistente all’usura per garantire […]
Standard di calibrazione AFM / SPM e reticoli di prova
La microscopia a forza atomica (AFM) è diventata uno strumento prezioso per l’imaging e misurazioni accurate su scala micrometrica e nanometrica. Per convalidare le capacità di misurazione, è necessario calibrare correttamente il sistema AFM. In questa pagina troverai una selezione di standard di calibrazione AFM convenienti e precisi per la calibrazione dell’asse Z e dell’asse […]
TipCheck esempio per la verifica dei suggerimenti AFM
Durante l’imaging di una superficie del campione mediante AFM, potrebbe essere difficile sapere se la superficie viene riprodotta accuratamente o se è colpita da una punta smussata o rotta. Le punte smussate o rotte distorcono notevolmente le misurazioni come la rugosità della superficie o le dimensioni delle caratteristiche. Per essere certi che venga utilizzato un […]
Pozzo di faraday B100 EM-Tec per misurazioni della corrente del fascio
Il pozzo di Faraday B100 EM-Tec è stata progettato per consentire misurazioni precise della corrente del fascio su sistemi SEM, FESEM, FIB, EPMA o Microprobe. La misurazione precisa della corrente del fascio è utile per l’analisi quantitativa dei raggi X e per mappature dei raggi X e scansioni di linea coerenti e riproducibili. EM-Tec B100 […]
EM-Tec CXS standard di calibrazione e riferimento per EDS, WDS, BSD, CL e Raman
Gli standard di calibrazione e riferimento EM-Tec CXS sono progettati per calibrazione, test di risoluzione e test delle prestazioni. Ciascuno standard contiene una selezione di materiali di riferimento, sotto forma di elementi o composti, ottimizzati per compiti di calibrazione specifici, disponibili come tronchetti compatti Ø 12,7 mm e dischi Ø25,4 mm: Troncone standard in alluminio […]
EM-Tec SEM Risoluzione standard di prova
Gli standard di risoluzione della qualità sono strumenti essenziali per ottenere risoluzione, impostazioni, dimensioni del fascio e correzione dell’astigmatismo ottimali su sistemi SEM, CD-SEM, FESEM, FIB, Microprobe, Auger e SIMS. Gli standard del settore sono: Particelle d’oro su un substrato di carbonio Sfere di stagno su un substrato di carbonio. Le particelle d’oro sul carbonio […]
Standard di calibrazione EM-Tec M-1 e M-10
Gli standard di calibrazione EM-Tec M1 e M-10 hanno entrambi un modello a griglia a maglie quadrate inciso sulla superficie di un substrato Si ultra-piatto. I motivi a griglia sono strumenti pratici per la calibrazione dell’ingrandimento e la valutazione della distorsione dell’immagine. Destinato all’uso con applicazioni di microscopia a luce SEM, FESEM, FIB, Auger, SIMS […]
EM-Tec LAMC-15 standard di calibrazione per ingrandimento di grandi aree
L’esclusivo standard di calibrazione EM-Tec LAMC-15 è stato progettato per la calibrazione di grandi aree e bassi ingrandimenti. È costruito utilizzando un substrato di silicio conduttivo ultrapiatto su cui sono depositate linee di cromo lucido. Ideale per SEM e microscopia a luce riflessa con le seguenti applicazioni: Calibrazione a basso ingrandimento Calibrazione dell’ingrandimento su vasta […]
Standard di calibrazione del reticolo a bersaglio multiplo Micro-Tec MTC-5
I nuovi e innovativi standard di calibrazione del reticolo a bersaglio multiplo Micro-Tec MTC-5 sono stati progettati utilizzando un substrato di silicio conduttivo ultrapiatto con linee di cromo resistenti alla corrosione. I modelli precisi sono fabbricati utilizzando le più recenti tecniche di produzione di semiconduttori. Le griglie multi-target Micro-Tec forniscono immagini di contrasto luminose e […]
Standard di calibrazione dell’ingrandimento serie EM-Tec MCS
Gli standard di calibrazione dell’ingrandimento della serie EM-Tec MCS sono standard di calibrazione SEM unici, economici e di ampia gamma. Questi pratici standard di calibrazione possono essere utilizzati per la calibrazione dell’ingrandimento o per le misure di dimensioni critiche nei sistemi SEM, SEM standard, FESEM, FIB, Auger, SIMS e microscopi a luce riflessa da tavolo.
Portainserti pre-inclinazione FIB EM-Tec
I porta-tronchi pre-inclinazione sono utili per i sistemi FIB / SEM per ottenere il campione perpendicolare alla colonna FIB per consentire la fresatura FIB diritta sulla superficie del campione. Gli angoli di pre-inclinazione sono complementari agli angoli tra la colonna FIB e la colonna del fascio di elettroni. Quando si utilizzano supporti per tronchetti pre-inclinazione, […]
Stub a basso profilo EM-Tec per applicazioni FIB
I supporti per piedini a basso profilo sono stati appositamente sviluppati per le applicazioni FIB / SEM per avvicinare i campioni al polo dei sistemi FIB / SEM per consentire basse distanze di lavoro. Sono disponibili come versioni inclinate piatte, verticali e complementari del perno standard Ø12,7mm e una versione piatta del perno più grande […]
Manipolatore per ciglia acriliche EM-Tec per ultramicrotomia
Set di manipolatori di ciglia perfettamente realizzati per manipolare con cura sezioni ultrasottili, piccoli campioni di tessuto e piccoli campioni di microscopia. Questi set di manipolatori di ciglia artificiali economici sono ideali per l’ultramicrotomia per manipolare sezioni del coltello diamantato. Sono ugualmente utili per ordinare e manipolare campioni sensibili al microscopio stereo.
Pin di campionamento EM-Tec per crio-ultramicrotomi
Il perno EM-Tec ha un diametro di 2 mm ed è compatibile con gli ultramicrotomi crio Leica e RMC. Realizzato in alluminio compatibile cryo; Testa affusolata lunga 10 mm e rovesciata con un diametro di 3,5 mm. Scanalature concentriche sulla superficie del campione assicurano una migliore adesione. Offerto in pacchetti da 10 e 50.
EM-Tec tubi da incasso Ø3mm per la preparazione del campione TEM
Il tubo da incasso EM-Tec Ø3mm per la preparazione del campione TEM è utile quando si effettuano sezioni trasversali di materiali per l’esame nel TEM. Il diametro esterno di 3 mm è compatibile con il porta-campioni TEM; il diametro interno di 2 mm lascia spazio sufficiente per incorporare il / i campione / i. Il […]
Alternativa alla colorazione UranyLess TEM per l’acetato di uranile
UranyLess è un sostituto della colorazione efficace e pronto all’uso per l’acetato di uranile che fornisce risultati simili. Con Uranyless esiste una vera alternativa all’acetil acetato, senza i problemi con le restrizioni, la tossicità e le procedure di eliminazione dei rifiuti associate all’acetil acetato. UranyLess è un mix proprietario di lantanidi multipli con una grande […]
Scatole di stoccaggio griglia EM-Tec e Gilder TEM
Ampia scelta di pratici box a griglia TEM per la gestione dello stoccaggio a breve termine, la spedizione e lo stoccaggio a lungo termine di griglie TEM e griglie di sollevamento FIB. Tutte le scatole a griglia TEM offerte includono un coperchio in plastica trasparente per una facile posizione della griglia. Le singole posizioni di […]
Film di supporto TEM di EM-Tec Graphene
Le pellicole di supporto TEM in grafene EM-Tec sono lastre di grafene estremamente sottili supportate da griglie in carbonio o rame a maglie fini. I supporti in grafene EM-Tec sono disponibili con strati singoli, doppi, 3-5 e 6-8 (fogli) di grafene e coprono la griglia TEM diametro 3 mm. Completamente. L’area utilizzabile della superficie del […]
K-kit camera porta campioni di liquido a celle umide TEM
K-kit è un supporto per campioni innovativo facile da usare per campioni liquidi. È un porta-campioni monouso con un microcanale sigillabile tra due membrane di nitruro di silicio. Il kit K è realizzato in silicone con membrane Si3N4, utilizzando le più recenti tecnologie MEMS. Incluso con il kit K è una griglia di apertura in […]
Film di supporto e membrane in nitruro di silicio EM-Tec per EM
Le membrane in nitruro di silicio EM-Tec sono pellicole di nitruro di silicio ultrapiatte, ottimizzate per lo stress e pulite per applicazioni TEM. Le proprietà del nitruro di silicio consentono di produrre film di supporto TEM a bassa resistenza, resistenti alle sostanze chimiche, privi di sostanze chimiche. Sono ideali per applicazioni quali l’imaging di nanoparticelle, […]
Film di Formvar per supporti TEM
La gamma F di film di supporto TEM in Formvar sono un’ottima soluzione per l’imaging TEM di sezioni fragili, comprese sezioni criogeniche ultra sottili. Il Formvar offre film di supporto meccanicamente stabili. I film di supporto TEM in Formvar sono disponibili su griglie in rame e nichel con mesh da 50, 75,100, 200, 300 e […]
Panoramica TEM Support Films
Ampia selezione di film di supporto TEM di alta qualità pronti all’uso che consentono di risparmiare tempo prezioso. I tradizionali film di supporto a base di formvar e carbonio sono realizzati con apparecchiature dedicate in un ambiente pulito e sono tutti controllati con un TEM prima di essere spediti. I film di supporto TEM per […]
Strumento antistatico Zerostat 3
La pistola antistatica Zerostat 3 è uno strumento efficace e professionale per ridurre e rimuovere le cariche statiche su superfici isolanti come plastica, vetro, pellicole, porcellana, ceramica, scatole di immagazzinaggio ecc. Contiene un dispositivo a cristalli piezoelettrici con meccanismo di innesco che genera flussi positivi e negativi di ioni. Zerostat 3 include un’operazione a doppio […]
EM-Tec FIB lift-out grids
Le griglie FIB EM-Tec sono state ideate per tecniche di sollevamento con sistemi FIB o SEM / FIB. Offrono un modo sicuro per collegare le lamelle TEM ai pali della griglia. La lamella TEM può quindi essere facilmente ripresa in SEM / FIB, TEM o utilizzata per l’analisi EBSD. Le griglie FIB EM-Tec sono disponibili […]
Griglie di supporto TEM Value-Tec
Le griglie di supporto per microscopia elettronica Value-Tec convenienti sono progettate per applicazioni educative, non critiche e ad alto utilizzo. Queste griglie TEM di alta qualità sono prodotte con gli stessi elevati standard di produzione delle griglie di supporto TEM EM-Tec. Tuttavia, anziché l’ispezione individuale, vengono ispezionati a campione per lotto di produzione, il che […]
Griglie Gilder Griglie TEM in rame, nichel e oro
Griglie Gilder Griglie TEM sono griglie TEM di precisione con una vasta scelta di modelli per supportare quasi tutte le applicazioni TEM. Le griglie Gilder Grids TEM sono rinomate per gli esclusivi motivi a maglie sottili, che si estendono fino a 2000 mesh offrendo elevata trasparenza e dimensioni dei fori ridotte. Sono disponibili in rame, […]
Griglie di supporto TEM EM-Tec
Le griglie di supporto TEM EM-Tec di alta qualità sono progettate come griglie di supporto robuste e stabili. Sono disponibili in una varietà di materiali per adattarsi all’applicazione a portata di mano. I materiali sono rame standard, nichel, oro e molibdeno e inoltre titanio, alluminio e acciaio inossidabile.
Porta campioni EM-Tec SEM
The EM-Tec stub based SEM sample holders are all small SEM sample holders based on (modified) SEM sample stubs. They have the same footprint as the original SEM sample stubs and are directly compatible with the SEM stage or SEM sample stub holder. These affordable sample holders increase efficiency and reduce sample preparation time. Using […]
Supporti e tronchetti EM-Tec per i SEM da tavolo JEOL NeoScope
La selezione speciale di supporti e stub per campioni EM-Tec compatibili con i SEM da tavolo JEOL NeoScope consente una maggiore produttività, una più rapida conservazione dei campioni e una migliore imaging. I SEM da tavolo serie JEOL NeoScope standard comprendono movimenti X / Y di 35 mm e consentono un’altezza massima di 50 mm.
Strumenti di preparazione del campione TEM e strumenti per campioni di sezioni trasversali
La preparazione del campione per TEM richiede l’assottigliamento del campione così da renderlo trasparente al fascio di elettroni. L’assottigliamento meccanico del campione deve utilizzare tecniche per evitare la deformazione del campione. L’assottigliamento meccanico viene utilizzato anche prima dell’assottigliamento del fascio ionico per campioni di sezione trasversale.
Abbattitori acustici premium per i laboratori
SBox: contenitori per la riduzione del rumore Gli abbatitori acustici sono stati appositamente sviluppati per ridurre il livello di rumore generato dalle pompe per vuoto e dai chiller utilizzati con SEM, TEM, FIB-SEM, nella preparazione dei campioni e nei sistemi analitici. Se non vi è alcuna possibilità di spostare le pompe per vuoto e/o il […]
Stub e supporti per campioni EM-Tec per Phenom desktop SEM
I portacampioni e gli stub di campionamento EM-Tec offerti in queste pagine sono pienamente compatibili con i SEM da tavolo Phenom. Con i supporti per campioni EM-Tec appositamente progettati, è possibile estendere la versatilità dei microscopi Phenom, aumentare la produttività e sbloccare applicazioni aggiuntive. Sono divisi in gruppi in base alla compatibilità dei titolari EM-Tec. […]
Stub e supporti per campioni EM-Tec per SEM da tavolo Hitachi
Con la speciale collezione di supporti per campioni EM-Tec e stub per campioni compatibili con i SEM da tavolo Hitachi TM4000, TM4000plus, TM3030plus, TM3030, TM3000, TM1000 puoi aumentare la produttività, esaminare una moltitudine di campioni e sbloccare ancora più applicazioni. I SEM da tavolo della serie Hitachi TM includono un movimento dello stadio X / […]
Kit e scatole per campionatore da campo e da laboratorio EM-Tec
I kit di campionamento da campo e da laboratorio EM-Tec sono costituiti da uno stub a perno, una linguetta di carbonio adesivo ad alta purezza EM-Tec montata e un tubo di stoccaggio di tipo SB EM-tec. Il perno dello stelo con la linguetta adesiva in carbonio è conservato nel cappuccio del tubo di conservazione. Per […]
Scatole portaoggetti stub EM-Tec
Le scatole di immagazzinaggio e i tubi di immagazzinaggio dei perni EM-Tec sono progettati per conservare i campioni sul perno per perno standard o sui tronchi per perno Zeiss più corti. Possono essere utilizzati per la gestione dei campioni, per la conservazione a lungo termine, per l’archiviazione e persino per la memorizzazione di supporti per […]
Steli a perno FEI Teneo VolumeScope con scanalatura
I sistemi FEI Teneo VolumeScope utilizzano stub di campionamento appositamente progettati con un perno di diametro 3,1 mm. I campioni montati su questi pin vengono utilizzati per il sezionamento seriale e l’imaging BSD seriale a blocchi seriali per creare dati di imaging 3D della struttura del campione. L’area campione è costituita da una piattaforma rialzata […]
Gatan 3View stub, pinzette e scatola di memoria di esempio
I sistemi Gatan3View utilizzano pin di campionamento speciali. Questi vengono utilizzati all’interno dei SEM per creare dati di imaging 3D dei campioni mediante suddivisione seriale e imaging BSD. Le pinzette EM-Tec 521.AM Gatan 3View per la gestione degli stub sono state appositamente progettate per la movimentazione del perno sottile Ø2mm degli stub del sistema 3View […]
Griglia SEM finder in silicio
Il nuovo substrato griglia SEM Finder (FG1) in silicio è costituito da una griglia depositata cromata 12x12mm con un passo di 1 mm su un substrato conduttivo ultrapiatto in silicio. Il substrato è diviso in 144 campi indicizzati di 1x1mm dove ciascuno dei campi ha un’etichetta alfanumerica unica nell’angolo in basso a destra. L’etichetta alfanumerica […]
Filamenti EM di tungsteno EBS
I filamenti di tungsteno prodotti da Energy Beam Sciences sono utilizzati in tutte le principali marche di microscopi elettronici a scansione e trasmissione. Questi filamenti EM di tungsteno di alta qualità e alta stabilità, detti anche catodi o emettitori di elettroni, sono fabbricati per superare le specifiche dei produttori di apparecchiature originali. Questi catodi superiori […]
Supporti per stub per SEM
I supporti per gli stub SEM sono progettati per la gestione sicura degli stub SEM e per evitare confusione durante la preparazione di più stub SEM. Per gli stub a perno, è necessario disporre di un baccello di preparazione per mantenere lo stub a perno nella posizione corretta. Per gli stub cilindro JEOL e Hitachi, […]
Adattatori stub campione EM-Tec SEM
Gli adattatori per stub SEM EM-Tec consentono l’uso di tutti i tipi comuni di stub o montaggi SEM nel SEM. I vantaggi degli adattatori per stub EM-Tec SEM convenienti e pratici sono: montaggio del campione indipendente dalla piattaforma SEM risparmia tempo senza ricomporre i campioni utilizzare gli standard di calibrazione e risoluzione montati su stub […]
Nastri e nastri in carbonio biadesivo conduttivi ad elevata purezza
Le linguette e i nastri biadesivi in carbonio conduttivo a elevata purezza sono appositamente sviluppati per applicazioni SEM / EDS. Il materiale utilizzato sia per le schede che per i nastri è completamente trasparente per EDS con solo tracce di Al e Si. Il materiale è costruito utilizzando una fodera in tessuto non tessuto rivestito […]
Standard SEM supporti
Offriamo una vasta gamma di stub pin standard per supportare praticamente tutte le applicazioni. I pin standard SEM sono compatibili con Thermo Fisher, FEI, Philips, Tescan, Phenom, Aspex, RJLee, AmRay, Cambridge Instruments, Leica, CamScan, Aspex, ETEC e Novascan SEM. Sono realizzati in alluminio per vuoto. Sono lavorati secondo le specifiche e le dimensioni del produttore […]