SEM 2100
Il CIQTEK SEM 2100 è un microscopio elettronico a scansione (SEM) compatto che combina semplicità d’uso e funzionalità avanzate. L’interfaccia utente è progettata per garantire un’esperienza intuitiva e conforme agli standard del settore, offrendo un flusso di lavoro semplificato. Nonostante il design minimalista, il SEM 2100 include strumenti avanzati di misurazione e annotazione, gestione del […]
SEM 3200
Il CIQTEK SEM 3200 è un microscopio elettronico a scansione (SEM) a filamento di tungsteno ad alte prestazioni, progettato per un utilizzo universale con eccellenti capacità generali. La sua esclusiva struttura del cannone elettronico Dual-anode garantisce alta risoluzione e migliora il rapporto segnale-rumore dell’immagine anche a bassi voltaggi di eccitazione. Inoltre, offre un’ampia gamma di […]
SEM 3300
Il CIQTEK SEM 3300 è un microscopio elettronico a scansione (SEM) con filamento di tungsteno ad altissima risoluzione, che integra tecnologie avanzate come ottica elettronica “Super-Tunnel”, rivelatori in-lens e lente obiettivo elettrostatica ed elettromagnetica combinata. Grazie a queste innovazioni, supera i limiti di risoluzione tradizionali dei SEM a filamento di tungsteno, consentendo analisi a basso […]
SEM 4000 X
Il CIQTEK SEM 4000 X è un microscopio elettronico a scansione a emissione di campo (FE-SEM) stabile, versatile ed efficiente, capace di raggiungere una risoluzione di 1.9 nm@1.0 kV e di affrontare con facilità le sfide dell’imaging ad alta risoluzione su diversi tipi di campioni. Può essere aggiornato con una modalità di ultra-decelerazione del fascio, […]
SEM 4000 PRO
Il CIQTEK SEM 4000 Pro è un microscopio elettronico a scansione a emissione di campo (FE-SEM) progettato per applicazioni analitiche avanzate. Dotato di un cannone elettronico a emissione di campo Schottky ad alta luminosità e lunga durata, offre un design a tre stadi di lenti elettromagnetiche, garantendo prestazioni eccellenti in tecniche analitiche come EDS/EDX, EBSD […]
SEM 5000 PRO
Il CIQTEK SEM 5000 Pro è un microscopio elettronico a scansione a emissione di campo Schottky (FE-SEM) progettato per garantire alta risoluzione anche a basse tensioni di eccitazione. Grazie alla tecnologia avanzata Super-Tunnel per l’ottica elettronica e al design con lente composita elettrostatica-elettromagnetica, riduce l’effetto di carica spaziale, minimizza le aberrazioni e migliora la risoluzione […]
SEM 5000 X
Il CIQTEK SEM 5000 X è un FESEM a ultra-alta risoluzione progettato per la ricerca avanzata sui nanomateriali e lo sviluppo di semiconduttori di ultima generazione. Grazie a un’ottimizzazione della colonna ottica elettronica, riduce le aberrazioni complessive del 30%, raggiungendo una risoluzione di 0,6 nm a 15 kV e 1,0 nm a 1 kV. La […]
SEM DB550
Il CIQTEK DB550 è un microscopio elettronico a scansione a emissione di campo (FE-SEM) con colonna a fascio ionico (FIB) progettato per l’analisi nanometrica e la preparazione dei campioni. Grazie alla tecnologia ottica “super tunnel”, assicura elevate capacità analitiche su scala nanometrica, con il vantaggio della modalità “low voltage, high resolution”. La colonna FIB integra […]
EM-30N
Se stai pensando di acquistare un microscopio per il tuo laboratorio e non hai ancora un SEM, il microscopio elettronico a scansione (SEM) EM30N di Coxem è la scelta perfetta. La microscopia è essenziale per analisi dettagliate e un SEM come l’EM30N offre numerosi vantaggi. Questo strumento è compatto, facile da usare e combina le […]
SEM 5000
CIQTEK SEM5000 è un microscopio elettronico a scansione a emissione di campo (FE-SEM, FEG SEM) ad alta risoluzione e ricco di funzionalità. Il design avanzato della colonna, la tecnologia SuperTunnel, il design della lente obiettivo magnetica a bassa aberrazione consentono di ottenere immagini ad alta risoluzione a bassa tensione, mentre possono essere analizzati campioni magnetici. […]
DB 500
Microscopio elettronico a scansione con fascio ionico focalizzato FIB-SEM CIQTEK DB500 è un microscopio elettronico a scansione a emissione di campo con una colonna di fascio ionico focalizzato per la nanoanalisi e la preparazione dei campioni, il quale è applicato con la tecnologia “SuperTunnel”, un design di lente obiettivo a bassa aberrazione e senza magneti, […]
Custom SEM
Quale sorgente volete? I detector? Vi interessano EDS, EBSD e WDS? Volete l’analisi morfologica 3D dei campioni? Voi scegliete la configurazione e noi assembliamo il vostro nuovo SEM…lo volete blu? Richieste per il software?
EM-40
Il nuovo SEM COXEM EM-40 ultracompatto segna un nuovo traguardo per la famiglia di microscopi elettronici a scansione prodotti da COXEM. Presentando una tecnologia di elaborazione del segnale di quinta generazione, questo dispositivo offre immagini di altissima qualità con una frequenza di fotogrammi che può raggiungere i 13 fps. Con quattro diverse modalità di imaging […]
EM-30C (CeB6)
Il microscopio elettronico a scansione compatto EM30C, è la versione con filamento ad Esaboruro di Cerio (CeB6) del SEM compatto Coxem. L’EM-30C è completo delle ultime versioni dei detector degli elettroni Rettrodiffusi e dell’interfaccia grafica Nanostation (sempre più semplice, sempre più avanzata) Questo nuovo SEM EM-30C include una gamma di funzioni automatiche che semplificano il […]