STEM in FE-SEM
L’aggiunta di un detector STEM (Scanning Transmission Electron Microscopy) ad un SEM con sorgente ad emissione di campo, (SEM-FEG) amplia ulteriormente la tipologia di campioni e di analisi accessibili, mantenendo la flessibilità e la relativa semplicità d’uso del SEM, ma aggiungendo modalità di contrasto e di analisi tipiche della microscopia elettronica in trasmissione.
Il contrasto di potenziale nel SEM
Nell’analisi dei dispositivi elettronici esistono situazioni in cui osservare la sola morfologia o la composizione chimica di un campione non è sufficiente. Un circuito integrato può apparire perfettamente integro al microscopio elettronico, senza evidenti difetti strutturali, eppure non funzionare correttamente. In questi casi diventa fondamentale capire se ogni linea conduttrice, contatto o componente si trovi effettivamente al potenziale elettrico previsto.
Analisi SEM-EDS di rocce di scavo italiane contenenti terre rare
Terre rare ne abbiamo?
Piccole aree evidenti e brillanti che si staccano nettamente dal fondo: è così che le Terre Rare si rivelano al microscopio elettronico all’interno delle rocce italiane.
L’analisi SEM-EDS è fondamentale per individuare ed esaminare le Terre Rare (come lantanio, cerio e neodimio) presenti in minime concentrazioni nelle rocce di scavo. Nelle rioliti italiane – rocce vulcaniche ricche di silice e fenocristalli, diffuse in Sardegna, Lazio e Toscana – questi preziosi elementi si trovano spesso all’interno di piccoli grani di monazite, un fosfato leggero.
Nelle immagini microscopiche BSE, tali particelle brillano come inclusioni bianche tra le caratteristiche strutture lamellari della caolinite, un’argilla derivata dall’alterazione dei feldspati.
Sebbene le Terre Rare siano strategiche per la transizione tecnologica ed energetica, l’attuale concentrazione di pochi ppm ne limita il recupero industriale, mantenendo lo studio confinato a un rilevante interesse scientifico e geochimico.
Indagini tribologiche con SEM-EDS
La combinazione SEM-EDS rivoluziona l’approccio tribologico, unendo morfologia superficiale e chimica micro e nanometrica per una failure analysis accurata e predittiva, anche in situ.
I casi studio dimostrano la sua straordinaria versatilità: permette di identificare l’origine esatta delle fratture, mappare il degrado nei polimeri e analizzare oli lubrificanti a temperature controllate per testare gli additivi.
Non solo: intercetta frammenti metallici microscopici per una diagnostica precoce, valuta l’efficacia dei coating protettivi e scova le inclusioni non metalliche negli acciai prima che inneschino fenomeni distruttivi come micropitting e delaminazione.
Uno strumento definitivo per ottimizzare materiali e strategie di manutenzione avanzata.
Bio-materiali al SEM
Una nuova ricerca svela il potenziale dei bio-compositi in micelio, materiali ecologici e leggeri derivati da scarti agro-industriali.
Analizzarli al microscopio elettronico (SEM) è però complesso a causa della loro scarsa conducibilità.
Per superare questo limite, gli scienziati hanno utilizzato lo sputter coater hashtag#VacCoat DSR1, applicando un film d’oro ultrasottile di soli 3 nanometri.
Questo trattamento ha eliminato le cariche elettrostatiche senza creare artefatti.
Grazie a questa tecnologia, sono state ottenute immagini nitidissime, mappando con precisione la struttura interna e la “pelle fungina” che dona resistenza al materiale.
BEX: BSE imaging e analisi chimica EDS con un unico detector
Il rivoluzionario detector BEX Unity di Oxford Instruments trasforma questo desiderio in realtà, superando i limiti dei sistemi SEM convenzionali.
Grazie all’integrazione di sensori EDS e BSE in un unico dispositivo posizionato sotto il pezzo polare, il sistema elimina i problemi di deriva del campione e garantisce un overlapping perfetto in tempo reale.
Questa tecnologia offre prestazioni eccezionali: dalla capacità di mappare superfici con topografie complesse senza zone d’ombra, alla flessibilità di lavorare a diverse distanze operative.
Che vi occupiate di microelettronica, scienza dei materiali o farmaceutica, il BEX Unity ottimizza l’efficienza riducendo drasticamente i tempi di analisi.
Non perdete l’occasione di vedere questo sistema all’opera!
Puoi vedere questo detector all’opera e scoprirne tutte le potenzialità durante il Workshop Oxford che si terrà nella sede di Media System Lab a Rovereto (TN) il 7 maggio.
Microscopia Elettronica Forense
Grazie all’integrazione tra microscopia elettronica e spettroscopia a dispersione di energia (EDS) l’analisi dei campioni forensi diventa un tracciatore ecologico e geografico infallibile, mentre la caratterizzazione chimica elementale consente di identificare istantaneamente residui di sparo o particelle nanometriche nei tessuti.
Microscopia elettronica a Pavia
Abbiamo appena chiuso una ottima esperienza a Pavia, abbiamo passato due settimane che hanno portato molte competenze del nostro Team a Pavia che per questo periodo si è trasformata nel “posto dei microscopisti”.
Volume Electron Microscopy
SEM ad alta velocità HEM6000.
Ad alta velocità Emissione di campo completamente automatizzata Microscopio elettronico a scansione La sua velocità di imaging è oltre cinque volte superiore a quella di un microscopio elettronico a scansione a emissione di campo convenzionale (FESEM).
La storia fondamento del futuro
Le basi costruttive fondamentali del rivelatore Everhart-Thornley (E-T) per microscopi elettronici a scansione, ad esempio, sono rimaste sostanzialmente invariate sin dalla sua introduzione nel 1960.
Indagini SEM-EDS per l’archeometria e la numismatica
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Le sorgenti di elettroni: differenze tra emissione di campo a catodo freddo ed emissione di campo a catodo caldo
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Le sorgenti di elettroni: principio di funzionamento delle sorgenti a emissione di campo
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Service informatico in microscopia
Con il progredire delle tecnologie, l’utilizzo dei personal computer ha assunto una rilevanza preponderante nelle attività quotidiane, sia in ambito lavorativo dove lo scambio continuo di email, le riunioni in videoconferenza e l’impiego di programmi per la preparazione di progetti e documenti sono all’ordine del giorno, che nella vita privata per lo svago e la […]
Ingrandimento e campo visivo al SEM
Come possiamo fidarci della misura riportata sulla “scale bar” di ogni SEM? Media System Lab fornisce standard certificati e tracciabili con cui è possibile verificare ed eventualmente ricalibrare la dimensione dell’immagine visualizzata al microscopio elettronico. Durante l’acquisizione di un’immagine, lo scan generator del SEM deflette il fascio elettronico sul campione, mentre i detector SE e BSE raccolgono gli elettroni secondari e retrodiffusi per ogni posizione x, y del fascio.