Microscopia Elettronica Forense
Grazie all’integrazione tra microscopia elettronica e spettroscopia a dispersione di energia (EDS) l’analisi dei campioni forensi diventa un tracciatore ecologico e geografico infallibile, mentre la caratterizzazione chimica elementale consente di identificare istantaneamente residui di sparo o particelle nanometriche nei tessuti.
Microscopia elettronica a Pavia
Abbiamo appena chiuso una ottima esperienza a Pavia, abbiamo passato due settimane che hanno portato molte competenze del nostro Team a Pavia che per questo periodo si è trasformata nel “posto dei microscopisti”.
Volume Electron Microscopy
SEM ad alta velocità HEM6000.
Ad alta velocità Emissione di campo completamente automatizzata Microscopio elettronico a scansione La sua velocità di imaging è oltre cinque volte superiore a quella di un microscopio elettronico a scansione a emissione di campo convenzionale (FESEM).
La storia fondamento del futuro
Le basi costruttive fondamentali del rivelatore Everhart-Thornley (E-T) per microscopi elettronici a scansione, ad esempio, sono rimaste sostanzialmente invariate sin dalla sua introduzione nel 1960.
Indagini SEM-EDS per l’archeometria e la numismatica
Indagini SEM-EDS per l’archeometria e la numismatica
Le sorgenti di elettroni: differenze tra emissione di campo a catodo freddo ed emissione di campo a catodo caldo
Le sorgenti di elettroni: differenze tra emissione di campo a catodo freddo ed emissione di campo a catodo caldo
Le sorgenti di elettroni: principio di funzionamento delle sorgenti a emissione di campo
Le sorgenti di elettroni: principio di funzionamento delle sorgenti a emissione di campo
Service informatico in microscopia
Con il progredire delle tecnologie, l’utilizzo dei personal computer ha assunto una rilevanza preponderante nelle attività quotidiane, sia in ambito lavorativo dove lo scambio continuo di email, le riunioni in videoconferenza e l’impiego di programmi per la preparazione di progetti e documenti sono all’ordine del giorno, che nella vita privata per lo svago e la […]
Ingrandimento e campo visivo al SEM
Come possiamo fidarci della misura riportata sulla “scale bar” di ogni SEM? Media System Lab fornisce standard certificati e tracciabili con cui è possibile verificare ed eventualmente ricalibrare la dimensione dell’immagine visualizzata al microscopio elettronico. Durante l’acquisizione di un’immagine, lo scan generator del SEM deflette il fascio elettronico sul campione, mentre i detector SE e BSE raccolgono gli elettroni secondari e retrodiffusi per ogni posizione x, y del fascio.