Microscopia Elettronica Low Voltage
Grazie all’elevato contrasto intrinseco, alla preparazione del campione semplificata e alla stabilità dello strumento, i sistemi LVEM rappresentano piattaforme robuste per l’analisi rapida, riproducibile e scientificamente rigorosa della qualità dei vettori virali.
Microscopia elettronica a trasmissione Low Voltage – Workshop
Workshop di Media System Lab dedicato alla Low Voltage Electron Microscopy: una soluzione progettata per migliorare i limiti di contrasto dei sistemi tradizionali e rendere più accessibile la microscopia elettronica grazie a sistemi compatti e versatili.
TEM Compatti Delong Instruments e Ultramicrotomo RMC Boeckeler.
Nano-lavorazione con FIB-SEM per la preparazione dei campioni per le analisi al TEM
Il microscopio Dual Beam DB500 di CIQTEK unisce fascio elettronico e ionico per analisi e preparazione di campioni a livello nanometrico. Ideale per la ricerca avanzata in nanotecnologie, scienza dei materiali e semiconduttori, offre prestazioni eccezionali, risoluzione elevata e versatilità nelle applicazioni. Dispone di un nano-manipolatore integrato e un sistema di espansione che lo rende uno strumento potente per la ricerca e l’industria.
Workshop Delong Instruments 14 e 15 Giugno 22
Workshop di microscopia eletrtonica a trasmissione TEM compatto LVEM5 Delong Instruments