Analisi SEM-EDS di rocce di scavo italiane contenenti terre rare
Terre rare ne abbiamo?
Piccole aree evidenti e brillanti che si staccano nettamente dal fondo: è così che le Terre Rare si rivelano al microscopio elettronico all’interno delle rocce italiane.
L’analisi SEM-EDS è fondamentale per individuare ed esaminare le Terre Rare (come lantanio, cerio e neodimio) presenti in minime concentrazioni nelle rocce di scavo. Nelle rioliti italiane – rocce vulcaniche ricche di silice e fenocristalli, diffuse in Sardegna, Lazio e Toscana – questi preziosi elementi si trovano spesso all’interno di piccoli grani di monazite, un fosfato leggero.
Nelle immagini microscopiche BSE, tali particelle brillano come inclusioni bianche tra le caratteristiche strutture lamellari della caolinite, un’argilla derivata dall’alterazione dei feldspati.
Sebbene le Terre Rare siano strategiche per la transizione tecnologica ed energetica, l’attuale concentrazione di pochi ppm ne limita il recupero industriale, mantenendo lo studio confinato a un rilevante interesse scientifico e geochimico.
Indagini tribologiche con SEM-EDS
La combinazione SEM-EDS rivoluziona l’approccio tribologico, unendo morfologia superficiale e chimica micro e nanometrica per una failure analysis accurata e predittiva, anche in situ.
I casi studio dimostrano la sua straordinaria versatilità: permette di identificare l’origine esatta delle fratture, mappare il degrado nei polimeri e analizzare oli lubrificanti a temperature controllate per testare gli additivi.
Non solo: intercetta frammenti metallici microscopici per una diagnostica precoce, valuta l’efficacia dei coating protettivi e scova le inclusioni non metalliche negli acciai prima che inneschino fenomeni distruttivi come micropitting e delaminazione.
Uno strumento definitivo per ottimizzare materiali e strategie di manutenzione avanzata.
Bio-materiali al SEM
Una nuova ricerca svela il potenziale dei bio-compositi in micelio, materiali ecologici e leggeri derivati da scarti agro-industriali.
Analizzarli al microscopio elettronico (SEM) è però complesso a causa della loro scarsa conducibilità.
Per superare questo limite, gli scienziati hanno utilizzato lo sputter coater hashtag#VacCoat DSR1, applicando un film d’oro ultrasottile di soli 3 nanometri.
Questo trattamento ha eliminato le cariche elettrostatiche senza creare artefatti.
Grazie a questa tecnologia, sono state ottenute immagini nitidissime, mappando con precisione la struttura interna e la “pelle fungina” che dona resistenza al materiale.
BEX: BSE imaging e analisi chimica EDS con un unico detector
Il rivoluzionario detector BEX Unity di Oxford Instruments trasforma questo desiderio in realtà, superando i limiti dei sistemi SEM convenzionali.
Grazie all’integrazione di sensori EDS e BSE in un unico dispositivo posizionato sotto il pezzo polare, il sistema elimina i problemi di deriva del campione e garantisce un overlapping perfetto in tempo reale.
Questa tecnologia offre prestazioni eccezionali: dalla capacità di mappare superfici con topografie complesse senza zone d’ombra, alla flessibilità di lavorare a diverse distanze operative.
Che vi occupiate di microelettronica, scienza dei materiali o farmaceutica, il BEX Unity ottimizza l’efficienza riducendo drasticamente i tempi di analisi.
Non perdete l’occasione di vedere questo sistema all’opera!
Puoi vedere questo detector all’opera e scoprirne tutte le potenzialità durante il Workshop Oxford che si terrà nella sede di Media System Lab a Rovereto (TN) il 7 maggio.
NanoInnovation 2024
Il Congresso di microscopia elettronica italiano NanoInnovation 2024 si svolgerà a Roma dal 9 al 13 Settembre e Media System Lab ci sarà. Saremo presenti anche con uno dei nuovi SEM Ciqtek che sarà a disposizione di chiunque vorrà testarlo durante gli orari di apertura del Congresso ed è già possibile prenotare live demo chiamando […]
Electron Microscopy Congress 2024
Il Congresso di microscopia elettronica più importante d’Europa apre le porte e Media System Lab ci sarà. Nel Gennaio 2020 abbiamo partecipato a Copenhagen alla riunione per la presentazione agli espositori dell’EMC20 che si sarebbe dovuto tenere nell’Agosto dello stesso anno al centro congressi Bella Center ma la pandemia da SARS-COV-2 ha cambiato i piani […]
Nuovo Corso EDS a Rovereto – SOLD OUT!
Il 14 e 15 Maggio, presso il nostro ufficio situato nella Be Factory di Rovereto, avremo il piacere di ospitare un corso innovativo sulla Microanalisi a dispersione di energia (EDS). Guidato dai nostri esperti di EDS e Microscopia elettronica a scansione, il corso promette di offrire un’esperienza intensiva e informativa.
Il programma del corso è stato attentamente strutturato per offrire una panoramica completa delle fondamenta e delle tecniche avanzate nell’ambito della microanalisi. Si inizia con un’analisi dell’interazione elettrone-materia, seguita dall’approfondimento dei componenti di un sistema EDS e della preparazione dei campioni per l’analisi.
Attraverso sessioni teoriche e pratiche, i partecipanti esploreranno le tecniche di analisi elementare qualitativa e quantitativa, inclusi approcci con e senza standard reali/virtuali. Saranno inoltre esaminate strategie per affrontare la disomogeneità nei campioni e per ottimizzare l’analisi chimica.
Il corso culminerà in sessioni pratiche al SEM-EDS, in cui metteremo in pratica le informazioni teoriche discuteremo i risultati ottenuti. Le sessioni di domande e risposte forniranno ulteriore chiarezza e approfondimento su argomenti specifici.
Da notare che il corso è a numero chiuso, garantendo un’attenzione personalizzata a ciascun partecipante. Il costo dell’iscrizione include i pranzi e il pernottamento in hotel, offrendo un’esperienza completa e confortevole. Inoltre, i clienti SEM Media System Lab potranno beneficiare di un significativo sconto sull’iscrizione, come segno del nostro apprezzamento per la loro fiducia e collaborazione.
BEX: BSE imaging e analisi chimica EDS con un unico detector
C’è un nuovo detector che rivoluzionerà le tue analisi al SEM, è di Oxford Instruments ed è il primo al mondo a combinare segnali di elettroni retrodiffusi e raggi X ? per produrre immagini a colori ad alta definizione con dati elementari.
Mappe Chimiche qualitative o semiquantitative?
SEM EDS Mappe Chimiche qualitative o semiquantitative?
Analisi GSR (Gun Shot Residue) secondo la normativa ASTM E1588-20
Analisi GSR (Gun Shot Residue) secondo la normativa ASTM E1588-20
Ottimizzazione dei parametri SEM-EDS per l’analisi dei rivestimenti superficiali
Ottimizzazione dei parametri SEM-EDS per l’analisi dei rivestimenti superficiali
SEM+EDS per l’Automotive conformi ISO 16232 e VDA 19
Nell’ambito della Cleanliness, prodotti e materiali vengono controllati seguendo i metodi di prova specificati nelle norme ISO 16232 e VDA 19. In particolare, la fase di analisi e conteggio delle particelle contaminanti ottenute dopo le fasi di estrazione e filtrazione, può essere eseguita impiegando diverse tecniche analitiche. L’utilizzo della tecnica SEM-EDS (Microscopio elettronico a scansione accessoriato con Microanalisi) rispetto all’osservazione con microscopio ottico porta numerosi vantaggi, tra cui la possibilità di rilevare particelle inferiori al micron e la capacità di ottenere con un’unica analisi automatizzata il conteggio, la misurazione e l’identificazione chimica di tutte le particelle presenti su un filtro.