Il contrasto di potenziale nel SEM
Nell’analisi dei dispositivi elettronici esistono situazioni in cui osservare la sola morfologia o la composizione chimica di un campione non è sufficiente. Un circuito integrato può apparire perfettamente integro al microscopio elettronico, senza evidenti difetti strutturali, eppure non funzionare correttamente. In questi casi diventa fondamentale capire se ogni linea conduttrice, contatto o componente si trovi effettivamente al potenziale elettrico previsto.
Analisi SEM-EDS di rocce di scavo italiane contenenti terre rare
Terre rare ne abbiamo?
Piccole aree evidenti e brillanti che si staccano nettamente dal fondo: è così che le Terre Rare si rivelano al microscopio elettronico all’interno delle rocce italiane.
L’analisi SEM-EDS è fondamentale per individuare ed esaminare le Terre Rare (come lantanio, cerio e neodimio) presenti in minime concentrazioni nelle rocce di scavo. Nelle rioliti italiane – rocce vulcaniche ricche di silice e fenocristalli, diffuse in Sardegna, Lazio e Toscana – questi preziosi elementi si trovano spesso all’interno di piccoli grani di monazite, un fosfato leggero.
Nelle immagini microscopiche BSE, tali particelle brillano come inclusioni bianche tra le caratteristiche strutture lamellari della caolinite, un’argilla derivata dall’alterazione dei feldspati.
Sebbene le Terre Rare siano strategiche per la transizione tecnologica ed energetica, l’attuale concentrazione di pochi ppm ne limita il recupero industriale, mantenendo lo studio confinato a un rilevante interesse scientifico e geochimico.
Indagini tribologiche con SEM-EDS
La combinazione SEM-EDS rivoluziona l’approccio tribologico, unendo morfologia superficiale e chimica micro e nanometrica per una failure analysis accurata e predittiva, anche in situ.
I casi studio dimostrano la sua straordinaria versatilità: permette di identificare l’origine esatta delle fratture, mappare il degrado nei polimeri e analizzare oli lubrificanti a temperature controllate per testare gli additivi.
Non solo: intercetta frammenti metallici microscopici per una diagnostica precoce, valuta l’efficacia dei coating protettivi e scova le inclusioni non metalliche negli acciai prima che inneschino fenomeni distruttivi come micropitting e delaminazione.
Uno strumento definitivo per ottimizzare materiali e strategie di manutenzione avanzata.
Bio-materiali al SEM
Una nuova ricerca svela il potenziale dei bio-compositi in micelio, materiali ecologici e leggeri derivati da scarti agro-industriali.
Analizzarli al microscopio elettronico (SEM) è però complesso a causa della loro scarsa conducibilità.
Per superare questo limite, gli scienziati hanno utilizzato lo sputter coater hashtag#VacCoat DSR1, applicando un film d’oro ultrasottile di soli 3 nanometri.
Questo trattamento ha eliminato le cariche elettrostatiche senza creare artefatti.
Grazie a questa tecnologia, sono state ottenute immagini nitidissime, mappando con precisione la struttura interna e la “pelle fungina” che dona resistenza al materiale.
BEX: BSE imaging e analisi chimica EDS con un unico detector
Il rivoluzionario detector BEX Unity di Oxford Instruments trasforma questo desiderio in realtà, superando i limiti dei sistemi SEM convenzionali.
Grazie all’integrazione di sensori EDS e BSE in un unico dispositivo posizionato sotto il pezzo polare, il sistema elimina i problemi di deriva del campione e garantisce un overlapping perfetto in tempo reale.
Questa tecnologia offre prestazioni eccezionali: dalla capacità di mappare superfici con topografie complesse senza zone d’ombra, alla flessibilità di lavorare a diverse distanze operative.
Che vi occupiate di microelettronica, scienza dei materiali o farmaceutica, il BEX Unity ottimizza l’efficienza riducendo drasticamente i tempi di analisi.
Non perdete l’occasione di vedere questo sistema all’opera!
Puoi vedere questo detector all’opera e scoprirne tutte le potenzialità durante il Workshop Oxford che si terrà nella sede di Media System Lab a Rovereto (TN) il 7 maggio.
Microscopia Elettronica Forense
Grazie all’integrazione tra microscopia elettronica e spettroscopia a dispersione di energia (EDS) l’analisi dei campioni forensi diventa un tracciatore ecologico e geografico infallibile, mentre la caratterizzazione chimica elementale consente di identificare istantaneamente residui di sparo o particelle nanometriche nei tessuti.
Microscopia elettronica a Pavia
Abbiamo appena chiuso una ottima esperienza a Pavia, abbiamo passato due settimane che hanno portato molte competenze del nostro Team a Pavia che per questo periodo si è trasformata nel “posto dei microscopisti”.
Volume Electron Microscopy
SEM ad alta velocità HEM6000.
Ad alta velocità Emissione di campo completamente automatizzata Microscopio elettronico a scansione La sua velocità di imaging è oltre cinque volte superiore a quella di un microscopio elettronico a scansione a emissione di campo convenzionale (FESEM).
Media System Lab al Lingotto
A&T Automation & Testing 2026 a Torino 11-13 Febbraio – Stand E40
Ops, lo abbiamo fatto ancora!
Corso EDS 2026 – 17 e 18 Marzo a Rovereto.
Una esperienza formativa di valore a numero chiuso. Iscrivetevi subito: info@m-s.it
Parlano di noi in Cina
Parlano di noi in due articoli usciti sul sito e sui canali social ufficiali di Ciqtek.
Il successo dei SEM Ciqtek in Italia non passa inosservato. In futuro il nome Ciqtek sarà conosciuto e presente in tutti i più importanti laboratori in Italia e in Europa.
Cryo-SEM e celle di Peltier
Microscopi Elettronici “Cryo”, sia a scansione (SEM) che a trasmissione (TEM), sono ampiamente utilizzati per la caratterizzazione di campioni biologici o di altri materiali con un elevato contenuto di acqua.
Con questo termine in realtà si possono intendere due diverse tipologie di analisi a bassa temperatura, una è la tecnica Cryo-EM vera e propria, mentre l’altra si avvale di un particolare stage portacampioni da utilizzare per le analisi con un SEM tradizionale.
Leggi il nostro ultimo articolo per approfondire l’argomento delle analisi a bassa temperatura al Microscopio elettronico.
Standard di Calibrazione per il SEM
La calibrazione non è una semplice procedura, ma una necessità per garantire l’affidabilità delle misurazioni. L’accreditamento dei laboratori, richiesto da normative come la ISO 17025, dipende dalla capacità di dimostrare l’accuratezza e la tracciabilità delle proprie misurazioni attraverso l’uso di standard certificati.
Prendiamo, ad esempio, l’ingrandimento. La “scale bar” che appare nelle immagini SEM fornisce un’indicazione immediata delle dimensioni, ma la sua affidabilità è garantita solo da una calibrazione periodica.
Errori che possono raggiungere il 10% sono comuni se non si utilizzano standard specifici.
Oltre all’ingrandimento, la calibrazione è vitale per la risoluzione, ovvero la capacità dello strumento di distinguere punti molto vicini tra loro. Sebbene non esista un metodo standard internazionale, l’utilizzo di campioni con particelle di oro o stagno è cruciale per validare le prestazioni dello strumento. Le immagini ad alta risoluzione dovrebbero essere nitide, con un buon rapporto segnale/rumore, e queste caratteristiche sono garantite solo da una corretta calibrazione.
La Microscopia elettronica a scansione secondo noi.
Corso SEM a numero chiuso, 21-22 Ottobre 2025. Iscriviti ora, scrivendo a info@m-s.it
Nuove tecniche per la sintesi di elettrodi per l’elettrolisi dell’acqua con membrana a scambio anionico (AEM)
L’elettrolisi con membrana a scambio anionico (AEM) è un processo che utilizza una particolare membrana semipermeabile per separare gli ioni idrossido (anioni, OH-) e permette la scissione dell’acqua in idrogeno e ossigeno mediante l’utilizzo di corrente elettrica. Gli elettrodi coinvolti nell’elettrolisi AEM operano in un ambiente alcalino, che consente l’utilizzo di catalizzatori basati su metalli […]
Ball Grid Array e analisi al SEM
I componenti BGA, fondamentali in elettronica avanzata, richiedono tecniche precise per l’analisi delle saldature. In questo articolo scopriamo come la lucidatura a ioni (con strumenti come il Coxem CP-8000+) permette di ottenere superfici prive di stress meccanici, ideali per immagini ad alto contrasto al microscopio elettronico a scansione (SEM). Confrontiamo metodi tradizionali e innovativi per una failure analysis affidabile.
Università di Torino, Dipartimento di Fisica
Il Prof. Vittone racconta come la microscopia elettronica e il supporto tecnico di Media System Lab siano strumenti essenziali per la ricerca su materiali semiconduttori, fisica del diamante e tecnologie quantistiche presso l’Università di Torino.
Amianto: vademecum per l’analisi con il SEM-EDS
Guida pratica all’analisi dell’amianto con SEM-EDS: normativa aggiornata, metodologie e consigli per interventi sicuri e precisi.
Analisi dei coatings con il microscopio elettronico
Il microscopio elettronico a scansione (SEM) è uno strumento fondamentale per l’analisi dei coating, permettendo di indagare morfologia, composizione chimica e ottimizzare i parametri di processo. L’articolo esplora esempi pratici di applicazione SEM su coating depositati tramite diverse tecnologie, come PVD, e su trattamenti di fosfatazione. Vengono anche trattati gli aspetti di controllo qualità e la creazione di mappe di spessore per rivestimenti sottili.
All’attacco o in difesa: gli animali osservati al SEM
Scopri come gli animali si difendono: artigli, peli urticanti e adattamenti invisibili rivelati dal microscopio elettronico a scansione.
NanoInnovation 2024
Il Congresso di microscopia elettronica italiano NanoInnovation 2024 si svolgerà a Roma dal 9 al 13 Settembre e Media System Lab ci sarà. Saremo presenti anche con uno dei nuovi SEM Ciqtek che sarà a disposizione di chiunque vorrà testarlo durante gli orari di apertura del Congresso ed è già possibile prenotare live demo chiamando […]
Electron Microscopy Congress 2024
Il Congresso di microscopia elettronica più importante d’Europa apre le porte e Media System Lab ci sarà. Nel Gennaio 2020 abbiamo partecipato a Copenhagen alla riunione per la presentazione agli espositori dell’EMC20 che si sarebbe dovuto tenere nell’Agosto dello stesso anno al centro congressi Bella Center ma la pandemia da SARS-COV-2 ha cambiato i piani […]
La microscopia elettronica a scansione nella failure analysis
Sai riconoscere le diverse tipologie di frattura su una superficie metallica? Scopri nel nostro ultimo articolo come il hashtag#SEM può essere il tuo migliore alleato nella Failure Analysis sui metalli.
L’importanza del diaframma nelle batterie agli ioni di litio
L’uso della microscopia elettronica a scansione con sorgente a emissione di campo (SEM-FEG) permette di caratterizzare la forma, la dimensione e la distribuzione dei pori nel diaframma, componente chiave nella realizzazione delle batterie agli ioni di litio. Vediamo come
Media System Lab e Flim Labs a Palermo
Workshop sulle Metodologie Avanzate di Investigazione: Unitevi a Noi all’Università di Palermo!
Fluorescence Lifetime Analysis, FLIM e Live-Cell Label-Free imaging con il microscopio olotomografico Nanolive.
Analisi delle strutture metallorganiche (MOFs) in polvere
la composizione e la microstruttura delle polveri delle materie prime influenzano le proprietà finali dei materiali. La distribuzione granulometrica delle particelle, la forma, la porosità e la superficie specifica delle polveri possono corrispondere a ben precise e peculiari proprietà del materiale. Pertanto la verifica e il controllo della materia prima in polvere è un prerequisito fondamentale.
Nel settore della catalisi, la realizzazione di materiali metallorganici (MOFs) per migliorare le prestazioni catalitiche superficiali è diventata oggi uno dei temi di ricerca più studiati. Scopriamo come il SEM può contribuire allo studio e allo sviluppo di questi materiali
Il SEM per lo studio della texture delle celle fotovoltaiche
Nel settore delle energie rinnovabili, i sistemi per la produzione di energia solare fotovoltaica (PV) rivestono da molti anni un ruolo di primo piano. In quanto componente centrale della produzione di energia fotovoltaica, le celle PV sono sempre oggetto di sviluppo e ottimizzazione. Il microscopio elettronico a scansione (SEM) svolge un ruolo fondamentale sia nell’ambito R&D che in quello del miglioramento del processo produttivo delle celle fotovoltaiche.
Detto in maniera molto sintetica, una cella PV è un sottile foglio (wafer) di materiale semiconduttore in grado di convertire l’energia solare in energia elettrica. Le celle fotovoltaiche attualmente in commercio e prodotte in serie sono principalmente celle in silicio, che si dividono in celle in silicio monocristallino, celle in silicio policristallino e celle in silicio amorfo.
Nell’attuale processo di produzione delle celle fotovoltaiche, al fine di migliorare ulteriormente l’efficienza di conversione energetica, sulla superficie della cella viene solitamente realizzata una speciale struttura texturizzata. Nello specifico, la texture sulla superficie di queste celle incrementa l’assorbimento della luce grazie all’aumentato numero di riflessioni della luce irradiata sulla superficie del wafer di silicio. Questa particolare texture non solo riduce la riflettività finale della superficie, ma crea anche “trappole di luce” all’interno della cella, aumentando così in modo significativo l’efficienza di conversione della cella stessa, anche a diversi angoli di incidenza (Fig.1). Rispetto ad una superficie piana, infatti, un wafer di silicio con struttura superficiale piramidale ha una maggiore probabilità che la componente riflessa dalla luce incidente agisca nuovamente sulla superficie del wafer anziché riflettersi in aria, consentendo l’assorbimento di più fotoni e fornendo dunque più coppie elettrone-lacuna.
Analisi dei materiali ceramici con microscopia elettronica a scansione
I materiali ceramici presentano una serie di proprietà tra cui elevato punto di fusione, elevata durezza, ottima resistenza all’usura e resistenza all’ossidazione, e per questo sono ampiamente utilizzati in svariati settori come l’industria elettronica, automobilistica, tessile, chimica e aerospaziale. Le proprietà fisiche dei materiali ceramici dipendono in gran parte dalla loro microstruttura, che è possibile caratterizzare grazie all’osservazione al SEM.
I materiali ceramici sono una classe di materiali inorganici non metallici realizzati a partire da composti naturali o sintetici mediante formatura e sinterizzazione ad alta temperatura, e possono essere suddivisi in materiali ceramici generali e materiali ceramici speciali.
I materiali ceramici speciali possono essere a loro volta classificati o in base alla composizione chimica: ceramiche su base ossidi, nitruri, carburi, boruri, siliciuri, ecc.; oppure in base alle loro caratteristiche e applicazioni: ceramiche strutturali e ceramiche funzionali.
Il posto dei microscopisti
Siamo così come ci vedi: trasparenti e pieni di passione per il nostro lavoro. Essere affidabili è un obiettivo che ogni membro del nostro team sente suo e ci impegniamo per poter garantire sempre il meglio ai nostri clienti: la nostra professionalità è il nostro biglietto da visita!
contattaci +39347942823 info@m-s.it
Profondità di campo
La lavorazione dei fogli di alluminio nella produzione di lattine è un processo definito a basso costo che coinvolge volumi molto elevati. Nel nostro ultimo articolo scopri perché il controllo qualità con SEM e EDS è fondamentale per ottimizzare il processo produttivo e minimizzare gli sprechi di materia prima.
Metodi non distruttivi di ricostruzione 3D al SEM
Se analizzati con le opportune tecniche analitiche (ad es. Microscopia elettronica a scansione), un numero inaspettatamente elevato di impianti dentali non mantiene la promessa di pulizia che dovrebbe essere garantita da un dispositivo medico in confezione sterile.
Indagini SEM-EDS per l’archeometria e la numismatica
Indagini SEM-EDS per l’archeometria e la numismatica
Le microplastiche nell’ambiente marino
Le microplastiche nell’ambiente marino al microscopio elettronico a scansione
Failure analysis su PCB: nel labirinto del Minotauro
Failure analysis su PCB
Osservazione di campioni liquidi e semisolidi al SEM
Osservazione di campioni liquidi e semisolidi al SEM
Ingrandimento e campo visivo al SEM
Come possiamo fidarci della misura riportata sulla “scale bar” di ogni SEM? Media System Lab fornisce standard certificati e tracciabili con cui è possibile verificare ed eventualmente ricalibrare la dimensione dell’immagine visualizzata al microscopio elettronico. Durante l’acquisizione di un’immagine, lo scan generator del SEM deflette il fascio elettronico sul campione, mentre i detector SE e BSE raccolgono gli elettroni secondari e retrodiffusi per ogni posizione x, y del fascio.
Identificazione automatica di fibre per l’analisi di amianto e FAV
L’analisi automatizzata di fibre di amianto e fibre artificiali vetrose (FAV) mediante microscopio elettronico a scansione (SEM) e microanalisi a dispersione di energia (EDS) rappresenta un’innovativa implementazione della tecnica che consente di caratterizzare campioni in modo rapido e affidabile e sono molti i laboratori qualificati dal Ministero della Salute che la usano per identificare e quantificare la presenza di amianto nei campioni ambientali. Nello specifico consente di misurare la quantità, la morfologia e la composizione di fibre sospette costituite ad esempio da asbesto o da lane minerali utilizzate come isolanti nell’edilizia e in altre applicazioni.