L’eccellenza della tecnica Broad Ion Beam (BIB) nella Failure Analysis dei Solder Bump Joints
L’efficienza operativa dei sistemi microelettronici d’avanguardia dipende strettamente dalla qualità dei solder bump joints. Tali giunti non solo assicurano la continuità elettrica e meccanica tra chip e substrato, ma ne preservano l’integrità strutturale nel tempo.
Microscopia Elettronica Low Voltage
Grazie all’elevato contrasto intrinseco, alla preparazione del campione semplificata e alla stabilità dello strumento, i sistemi LVEM rappresentano piattaforme robuste per l’analisi rapida, riproducibile e scientificamente rigorosa della qualità dei vettori virali.
Microscopia elettronica a trasmissione Low Voltage – Workshop
Workshop di Media System Lab dedicato alla Low Voltage Electron Microscopy: una soluzione progettata per migliorare i limiti di contrasto dei sistemi tradizionali e rendere più accessibile la microscopia elettronica grazie a sistemi compatti e versatili.
TEM Compatti Delong Instruments e Ultramicrotomo RMC Boeckeler.
Cryo-SEM e celle di Peltier
Microscopi Elettronici “Cryo”, sia a scansione (SEM) che a trasmissione (TEM), sono ampiamente utilizzati per la caratterizzazione di campioni biologici o di altri materiali con un elevato contenuto di acqua.
Con questo termine in realtà si possono intendere due diverse tipologie di analisi a bassa temperatura, una è la tecnica Cryo-EM vera e propria, mentre l’altra si avvale di un particolare stage portacampioni da utilizzare per le analisi con un SEM tradizionale.
Leggi il nostro ultimo articolo per approfondire l’argomento delle analisi a bassa temperatura al Microscopio elettronico.
Standard di Calibrazione per il SEM
La calibrazione non è una semplice procedura, ma una necessità per garantire l’affidabilità delle misurazioni. L’accreditamento dei laboratori, richiesto da normative come la ISO 17025, dipende dalla capacità di dimostrare l’accuratezza e la tracciabilità delle proprie misurazioni attraverso l’uso di standard certificati.
Prendiamo, ad esempio, l’ingrandimento. La “scale bar” che appare nelle immagini SEM fornisce un’indicazione immediata delle dimensioni, ma la sua affidabilità è garantita solo da una calibrazione periodica.
Errori che possono raggiungere il 10% sono comuni se non si utilizzano standard specifici.
Oltre all’ingrandimento, la calibrazione è vitale per la risoluzione, ovvero la capacità dello strumento di distinguere punti molto vicini tra loro. Sebbene non esista un metodo standard internazionale, l’utilizzo di campioni con particelle di oro o stagno è cruciale per validare le prestazioni dello strumento. Le immagini ad alta risoluzione dovrebbero essere nitide, con un buon rapporto segnale/rumore, e queste caratteristiche sono garantite solo da una corretta calibrazione.
Analisi dei coatings con il microscopio elettronico
Il microscopio elettronico a scansione (SEM) è uno strumento fondamentale per l’analisi dei coating, permettendo di indagare morfologia, composizione chimica e ottimizzare i parametri di processo. L’articolo esplora esempi pratici di applicazione SEM su coating depositati tramite diverse tecnologie, come PVD, e su trattamenti di fosfatazione. Vengono anche trattati gli aspetti di controllo qualità e la creazione di mappe di spessore per rivestimenti sottili.