Dai composti sintetici come le moderne plastiche e gomme, fino alle sostanze naturali come l’ambra e il caucciù, i polimeri costituiscono una classe di materiali straordinariamente variegata.
Oggi, con l’avvento e la crescente centralità della nano-strutturazione, l’analisi approfondita della loro morfologia, del comportamento di fase e delle loro proprietà fondamentali richiede strumenti avanzati: in questo scenario, la microscopia elettronica è diventata una risorsa insostituibile.
Fig.1: Campione di sezione di gomma tagliata al microtomo. Immagine acquisita con LVEM25E Delong Instruments in TEM mode
Analizzare i campioni polimerici al microscopio elettronico ha sempre rappresentato una sfida complessa. Composti da elementi leggeri, questi materiali offrono un contrasto intrinseco estremamente ridotto con i sistemi tradizionali.
La tecnologia Low-Voltage Electron Microscopy (LVEM) di Delong Instruments affronta questa limitazione. Operando a voltaggi ridotti, gli elettroni a bassa energia interagiscono in modo prolungato con le strutture organiche rispetto a quanto avvenga nei TEM classici ad alto voltaggio:
Gli elettroni vengono fortemente diffusi dal materiale, offrendo una nitida differenziazione dei dettagli nanometrici senza la necessità di complessi processi di colorazione chimica.
A una tensione di 5 kV (LVEM5kV), è sufficiente una variazione di densità nel campione di appena 0,074 g/cm³ per generare una differenza di contrasto ben percepibile del 5%.
Gli elettroni a bassa energia, come quelli presenti nei microscopi LVEM Delong, interagiscono in modo molto più forte con il campione rispetto agli elettroni ad alta energia dei TEM classici. Gli elettroni nel LVEM vengono fortemente diffusi dai materiali organici, fornendo un’eccezionale differenziazione dei dettagli.
Grazie alla capacità di operare in quattro distinte modalità di imaging (TEM, SEM, STEM ed ED), questi sistemi flessibili si prestano in modo ideale alle applicazioni di correlative microscopy. Ciò consente di raccogliere e correlate molteplici dati di visualizzazione per ogni singolo campione: le informazioni strutturali risultano così disponibili contemporaneamente sia in modalità trasmissione (per l’analisi dell’ultrastruttura) sia in modalità scansione (per lo studio di dettaglio della superficie).
L’LVEM25 è sviluppato per operare a una tensione di accelerazione di 25kV, consentendo un miglioramento della risoluzione finale dell’immagine. È inoltre in grado di lavorare con sezioni sottili di polimeri preparate in modo convenzionale (~100 nm), rendendolo un vero e proprio sostituto di un TEM tradizionale a grandezza naturale.
I microscopi elettronici Low Voltage rappresentano la soluzione perfetta per i ricercatori che studiano la struttura e le proprietà dei materiali polimerici.
Analizzare i campioni polimerici al microscopio elettronico ha sempre rappresentato una sfida complessa. Composti da elementi leggeri, questi materiali offrono un contrasto intrinseco estremamente ridotto con i sistemi tradizionali.
La tecnologia Low-Voltage Electron Microscopy (LVEM) di Delong Instruments affronta questa limitazione. Operando a voltaggi ridotti, gli elettroni a bassa energia interagiscono in modo prolungato con le strutture organiche rispetto a quanto avvenga nei TEM classici ad alto voltaggio:
Gli elettroni vengono fortemente diffusi dal materiale, offrendo una nitida differenziazione dei dettagli nanometrici senza la necessità di complessi processi di colorazione chimica.
A una tensione di 5 kV (LVEM5), è sufficiente una variazione di densità nel campione di appena 0,074 g/cm³ per generare una differenza di contrasto ben percepibile del 5%.
Gli elettroni a bassa energia, come quelli presenti nei microscopi LVEM Delong, interagiscono in modo molto più forte con il campione rispetto agli elettroni ad alta energia dei TEM classici. Gli elettroni nel LVEM vengono fortemente diffusi dai materiali organici, fornendo un’eccezionale differenziazione dei dettagli.
Grazie alla capacità di operare in quattro distinte modalità di imaging (TEM, SEM, STEM ed ED), questi sistemi flessibili si prestano in modo ideale alle applicazioni di correlative microscopy.
Ciò consente di raccogliere e correlate molteplici dati di visualizzazione per ogni singolo campione: le informazioni strutturali risultano così disponibili contemporaneamente sia in modalità trasmissione (per l’analisi dell’ultrastruttura) sia in modalità scansione (per lo studio di dettaglio della superficie).
L’LVEM25 è sviluppato per operare a una tensione di accelerazione di 25kV, consentendo un miglioramento della risoluzione finale dell’immagine. È inoltre in grado di lavorare con sezioni sottili di polimeri preparate in modo convenzionale (~100 nm), rendendolo un vero e proprio sostituto di un TEM tradizionale a grandezza naturale.
I microscopi elettronici Low Voltage rappresentano la soluzione perfetta per i ricercatori che studiano la struttura e le proprietà dei materiali polimerici.
Fig.2 e Fig.3: Campioni vescicole polimeriche su film di carbonio. Immagine acquisita con LVEM25E Delong Instruments in TEM mode.
Fig.4 e Fig. 5: Campioni di copolimero. Immagini acquisite con LVEM25E in STEM mode a 10kV.
Fig.6 Campione di polimero con fibra di carbonio acquisito con LVEM5 in SEM mode. Campione preparato con gold sputtering.
