Applicazioni LVEM: Polimeri
Il microscopio elettronico a trasmissione tradizionale richiede l’acetato di uranile per il contrasto, comportando alti costi e rischi.
E’ stato dimostrato come la Microscopia Elettronica a Bassa Tensione (LVEM) sia un’alternativa eccellente.
Testando quattro protocolli su macrofagi, i ricercatori hanno provato che l’LVEM di Delong Instruments genera un contrasto naturale superiore, anche eliminando del tutto l’uranile.
Infatti, il rapporto segnale/rumore è nettamente migliore rispetto all’HV-TEM convenzionale (8,08 contro 0,99). Inoltre, l’uso di osmio ridotto ha massimizzato la definizione delle membrane cellulari.
Questa innovativa tecnologia semplifica le preparazioni e abbassa i costi, rendendo l’analisi Bio-TEM sicura e accessibile a tutti i laboratori.
Il contrasto di potenziale nel SEM
Terre rare ne abbiamo?
Piccole aree evidenti e brillanti che si staccano nettamente dal fondo: è così che le Terre Rare si rivelano al microscopio elettronico all’interno delle rocce italiane.
L’analisi SEM-EDS è fondamentale per individuare ed esaminare le Terre Rare (come lantanio, cerio e neodimio) presenti in minime concentrazioni nelle rocce di scavo. Nelle rioliti italiane – rocce vulcaniche ricche di silice e fenocristalli, diffuse in Sardegna, Lazio e Toscana – questi preziosi elementi si trovano spesso all’interno di piccoli grani di monazite, un fosfato leggero.
Nelle immagini microscopiche BSE, tali particelle brillano come inclusioni bianche tra le caratteristiche strutture lamellari della caolinite, un’argilla derivata dall’alterazione dei feldspati.
Sebbene le Terre Rare siano strategiche per la transizione tecnologica ed energetica, l’attuale concentrazione di pochi ppm ne limita il recupero industriale, mantenendo lo studio confinato a un rilevante interesse scientifico e geochimico.
Critical Point Dryer
Terre rare ne abbiamo?
Piccole aree evidenti e brillanti che si staccano nettamente dal fondo: è così che le Terre Rare si rivelano al microscopio elettronico all’interno delle rocce italiane.
L’analisi SEM-EDS è fondamentale per individuare ed esaminare le Terre Rare (come lantanio, cerio e neodimio) presenti in minime concentrazioni nelle rocce di scavo. Nelle rioliti italiane – rocce vulcaniche ricche di silice e fenocristalli, diffuse in Sardegna, Lazio e Toscana – questi preziosi elementi si trovano spesso all’interno di piccoli grani di monazite, un fosfato leggero.
Nelle immagini microscopiche BSE, tali particelle brillano come inclusioni bianche tra le caratteristiche strutture lamellari della caolinite, un’argilla derivata dall’alterazione dei feldspati.
Sebbene le Terre Rare siano strategiche per la transizione tecnologica ed energetica, l’attuale concentrazione di pochi ppm ne limita il recupero industriale, mantenendo lo studio confinato a un rilevante interesse scientifico e geochimico.
Analisi SEM-EDS di rocce di scavo italiane contenenti terre rare
Terre rare ne abbiamo?
Piccole aree evidenti e brillanti che si staccano nettamente dal fondo: è così che le Terre Rare si rivelano al microscopio elettronico all’interno delle rocce italiane.
L’analisi SEM-EDS è fondamentale per individuare ed esaminare le Terre Rare (come lantanio, cerio e neodimio) presenti in minime concentrazioni nelle rocce di scavo. Nelle rioliti italiane – rocce vulcaniche ricche di silice e fenocristalli, diffuse in Sardegna, Lazio e Toscana – questi preziosi elementi si trovano spesso all’interno di piccoli grani di monazite, un fosfato leggero.
Nelle immagini microscopiche BSE, tali particelle brillano come inclusioni bianche tra le caratteristiche strutture lamellari della caolinite, un’argilla derivata dall’alterazione dei feldspati.
Sebbene le Terre Rare siano strategiche per la transizione tecnologica ed energetica, l’attuale concentrazione di pochi ppm ne limita il recupero industriale, mantenendo lo studio confinato a un rilevante interesse scientifico e geochimico.
Microscopia elettronica Low Voltage
Il microscopio elettronico a trasmissione tradizionale richiede l’acetato di uranile per il contrasto, comportando alti costi e rischi.
E’ stato dimostrato come la Microscopia Elettronica a Bassa Tensione (LVEM) sia un’alternativa eccellente.
Testando quattro protocolli su macrofagi, i ricercatori hanno provato che l’LVEM di Delong Instruments genera un contrasto naturale superiore, anche eliminando del tutto l’uranile.
Infatti, il rapporto segnale/rumore è nettamente migliore rispetto all’HV-TEM convenzionale (8,08 contro 0,99). Inoltre, l’uso di osmio ridotto ha massimizzato la definizione delle membrane cellulari.
Questa innovativa tecnologia semplifica le preparazioni e abbassa i costi, rendendo l’analisi Bio-TEM sicura e accessibile a tutti i laboratori.
Indagini tribologiche con SEM-EDS
La combinazione SEM-EDS rivoluziona l’approccio tribologico, unendo morfologia superficiale e chimica micro e nanometrica per una failure analysis accurata e predittiva, anche in situ.
I casi studio dimostrano la sua straordinaria versatilità: permette di identificare l’origine esatta delle fratture, mappare il degrado nei polimeri e analizzare oli lubrificanti a temperature controllate per testare gli additivi.
Non solo: intercetta frammenti metallici microscopici per una diagnostica precoce, valuta l’efficacia dei coating protettivi e scova le inclusioni non metalliche negli acciai prima che inneschino fenomeni distruttivi come micropitting e delaminazione.
Uno strumento definitivo per ottimizzare materiali e strategie di manutenzione avanzata.
Bio-materiali al SEM
Una nuova ricerca svela il potenziale dei bio-compositi in micelio, materiali ecologici e leggeri derivati da scarti agro-industriali.
Analizzarli al microscopio elettronico (SEM) è però complesso a causa della loro scarsa conducibilità.
Per superare questo limite, gli scienziati hanno utilizzato lo sputter coater hashtag#VacCoat DSR1, applicando un film d’oro ultrasottile di soli 3 nanometri.
Questo trattamento ha eliminato le cariche elettrostatiche senza creare artefatti.
Grazie a questa tecnologia, sono state ottenute immagini nitidissime, mappando con precisione la struttura interna e la “pelle fungina” che dona resistenza al materiale.
BEX: BSE imaging e analisi chimica EDS con un unico detector
Il rivoluzionario detector BEX Unity di Oxford Instruments trasforma questo desiderio in realtà, superando i limiti dei sistemi SEM convenzionali.
Grazie all’integrazione di sensori EDS e BSE in un unico dispositivo posizionato sotto il pezzo polare, il sistema elimina i problemi di deriva del campione e garantisce un overlapping perfetto in tempo reale.
Questa tecnologia offre prestazioni eccezionali: dalla capacità di mappare superfici con topografie complesse senza zone d’ombra, alla flessibilità di lavorare a diverse distanze operative.
Che vi occupiate di microelettronica, scienza dei materiali o farmaceutica, il BEX Unity ottimizza l’efficienza riducendo drasticamente i tempi di analisi.
Non perdete l’occasione di vedere questo sistema all’opera!
Puoi vedere questo detector all’opera e scoprirne tutte le potenzialità durante il Workshop Oxford che si terrà nella sede di Media System Lab a Rovereto (TN) il 7 maggio.
Microscopia Elettronica Forense
Grazie all’integrazione tra microscopia elettronica e spettroscopia a dispersione di energia (EDS) l’analisi dei campioni forensi diventa un tracciatore ecologico e geografico infallibile, mentre la caratterizzazione chimica elementale consente di identificare istantaneamente residui di sparo o particelle nanometriche nei tessuti.
Microscopia elettronica a Pavia
Abbiamo appena chiuso una ottima esperienza a Pavia, abbiamo passato due settimane che hanno portato molte competenze del nostro Team a Pavia che per questo periodo si è trasformata nel “posto dei microscopisti”.
Microscopi elettronici innovativi e compatti
I microscopi elettronici a trasmissione più innovativi sono Delong Instruments:
sono plug-and-play, sono compatti (uno è addirittura tabletop), lavorano in modalità diverse, oltre la TEM: STEM, SEM, EDS, Diffrazione, grazie all’ottimo contrasto i campioni possono essere visti senza staining, venite a scoprire il resto…
Microscopia Elettronica Low Voltage
Grazie all’elevato contrasto intrinseco, alla preparazione del campione semplificata e alla stabilità dello strumento, i sistemi LVEM rappresentano piattaforme robuste per l’analisi rapida, riproducibile e scientificamente rigorosa della qualità dei vettori virali.
Microscopia elettronica a trasmissione Low Voltage – Workshop
Workshop di Media System Lab dedicato alla Low Voltage Electron Microscopy: una soluzione progettata per migliorare i limiti di contrasto dei sistemi tradizionali e rendere più accessibile la microscopia elettronica grazie a sistemi compatti e versatili.
TEM Compatti Delong Instruments e Ultramicrotomo RMC Boeckeler.
Il colore spiegato in bianco e nero: studio della colorazione della pelle di lucertola con la microscopia elettronica a scansione a emissione di campo
Le lucertole presentano colori cutanei generati da pigmenti o da strutture cellulari complesse. Il microscopio elettronico SEM5000 di CIQTEK, grazie alla modalità STEM, consente di osservare e misurare queste microstrutture con alta precisione, collegando l’aspetto ottico macroscopico alla disposizione cellulare. Il software Automap consente inoltre di ottenere immagini ad alta definizione su ampia scala.
Sold Out!
Il workshop a Roma del Microscopio elettronico della Delong Instruments LVEM25E è andato sold-out, tutto esaurito nell’arco di pochi giorni. Abbiamo quindi deciso di offrire una possibilità in più per poter provare questo innovativo e versatile All-in-One Electron Microscope LVEM25E dal 21 al 23 Giugno. Un solo posto disponibile dunque a chi ci contatterà per […]
Occasione solo per 10 fortunati
Workshop in Italia a Roma dell’ All-in-One Electron Microscope LVEM25E dal 21 al 23 Giugno, solo 10 posti prenotabili per una demo privata avrete circa due ore per provare tutte le modalità di cui è equipaggiato questo incredibile microscopio elettronico: TEM, SEM, STEM, EDS, Diffrazione (ED) cliccate sul link qui sotto: ALL-IN-ONE ELECTRON MICROSCOPE
Workshop All-in-One Electron microscope a Roma 21-23 Giugno 2023
Il microscopio all-in-one LVEM25E della Delong Instruments sarà a vostra disposizione, per una demo privata con i vostri campioni a Roma dal 21 al 23 Giugno prezzo l’Università Tor Vergata. Pre prenotare la vostra demo privata dovete contattarci via e-mail a info@m-s.it o telefonicamente allo 3517603399 o attraverso il vostro commerciale Media System Lab di […]
Le lenti a magneti permanenti nei microscopi a trasmissione compatti di Delong Instruments
Le lenti a magneti permanenti nei microscopi a trasmissione compatti di Delong Instruments
Workshop Delong Instruments 14 e 15 Giugno 22
Workshop di microscopia eletrtonica a trasmissione TEM compatto LVEM5 Delong Instruments